[发明专利]对纵向移动纱线中的杂质进行光学检测的设备有效
| 申请号： | 200880117090.5 | 申请日： | 2008-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN101878439A | 公开（公告）日： | 2010-11-03 |
| 发明（设计）人： | 奥拉夫·伯莱姆 | 申请（专利权）人： | 欧瑞康纺织有限及两合公司 |
| 主分类号： | G02B5/20 | 分类号： | G02B5/20;D01H13/26;G01N21/89 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉 |
| 地址： | 德国雷姆*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种对纵向移动的纱线(13，23，33)中的杂质尤其是外来纤维进行光学检测的设备，该设备包括白光二极管(11，21，31)和用于测量从纱线反射的光的至少一个传感器(12，22)，白光二极管(11，21，31)沿纱线(13，23，33)的方向发射光并具有蓝光发射半导体元件和冷光转换元件，其中，光路(14，24)中存在光学滤波器(10，20，30)，该滤波器被设计用于减小蓝光的波长范围的强度而使可见光的较长波长范围的强度基本上不受影响。 | ||
| 搜索关键词： | 纵向 移动 纱线 中的 杂质 进行 光学 检测 设备 | ||
【主权项】：
一种用于对纵向移动的纱线(13，23，33)中的杂质尤其是外来纤维进行光学检测的设备，该设备具有白光二极管(11，21，31)和用于测量由所述纱线(13，23，33)反射的光的至少一个传感器(12，22)，所述白光二极管(11，21，31)沿所述纱线的方向发射光并具有发射蓝光的半导体元件和冷光转换元件，其特征在于：在光路(14，24)上布置有光学滤波器(10，20，30)，该滤波器被设置为减小蓝光的波长范围的强度而使可见光的较长波长范围的强度基本上不受影响。
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