[发明专利]试样检测装置及包括该试样检测装置的测定装置有效

专利信息
申请号: 200880113072.X 申请日: 2008-10-25
公开(公告)号: CN101836119A 公开(公告)日: 2010-09-15
发明(设计)人: 关本慎二郎 申请(专利权)人: 爱科来株式会社
主分类号: G01N35/02 分类号: G01N35/02;G01N21/77;G01N33/52;G01V8/12
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种试样检测装置(B),其包括:受光元件(5)和判断单元(8),所述受光元件(5)输出对应于从一对光源(40)、(41)照射到检测区域(AR)并透过该检测区域(AR)的两束光的受光量的信号,所述判断单元(8)根据所述信号判断试样是否被适当地供给到检测区域(AR),此外还包括设有孔(60)的部件(6)。从一对光源(40)、(41)发出的两束光在由孔(60)规定的路径中行进,并行进到检测区域(AR)中彼此位置错开的区域(ARr)、(ARf)。根据这种构成,不使用光学透镜等昂贵的部件,能正确判断试样是否适当地供给到检测区域(AR)。
搜索关键词: 试样 检测 装置 包括 测定
【主权项】:
一种试样检测装置,其特征在于,其包括:至少一对光源,其用于对作为试样的供给目的地的检测区域照射光;以及受光元件,其接受从所述一对光源照射到所述检测区域并透过所述检测区域的两束光且输出对应于其受光量的信号,该试样检测装置进一步包括位于所述一对光源和所述检测区域之间的设有至少一个孔的部件,且该试样检测装置以下述方式构成:从所述一对光源发出的两束光在由所述孔规定的路径中行进,并行进至所述检测区域中的彼此位置错开的区域。
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