[发明专利]试样检测装置及包括该试样检测装置的测定装置有效

专利信息
申请号: 200880113072.X 申请日: 2008-10-25
公开(公告)号: CN101836119A 公开(公告)日: 2010-09-15
发明(设计)人: 关本慎二郎 申请(专利权)人: 爱科来株式会社
主分类号: G01N35/02 分类号: G01N35/02;G01N21/77;G01N33/52;G01V8/12
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 试样 检测 装置 包括 测定
【说明书】:

技术领域

本发明涉及用于判断血液等试样是否适当地供给到规定区域的试样检测装置以及包括该试样检测装置的测定装置。

背景技术

作为现有的试样检测装置的具体例子,有专利文献1~3中所述的试样检测装置。这些文献中记载的试样检测装置均设置为:从光源对规定的检测区域照射光,用受光元件接受来自该检测区域的反射光或透射光,根据所述检测区域的光的反射率或透射率判断试样是否存在于所述检测区域中。专利文献2和3中,通过使用一对光源,使光照射到彼此错开的两个区域,根据该单元可以判断试样是否跨越两个区域并在两个区域中充分存在,且即使在检测区域的面积较大的情况下也可以应付。

在上述装置中,只是从光源向检测区域照射光,检测区域以外的部分也被光照射到,通过检测区域以外的部分的光也被受光元件检测到。这样,在判断试样是否在检测区域中适当存在方面容易产生错误。因此,上述专利文献1~3中所述的装置中,采用利用光学透镜将光源发出的光适当地引导到检测区域的手段,或者不得不采用这种手段。

然而,如果如上所述利用光学透镜,除了该部件成本高以外,用于组装光学透镜的结构也较复杂,整个装置的制造成本变高。另外,由于还需要用于组装光学透镜的空间,因而具有导致整个装置大型化的不利。在设置多个光源的情况下,由于还必须设置多个光学透镜,因而上述不利变得更加显著。

专利文献1:日本特开2004-163393号公报

专利文献2:日本专利第3455654号公报

专利文献3:美国专利第5889585号公报

发明内容

发明要解决的问题

本发明的目的是提供能消除或减轻上述不利的试样检测装置以及包括该试样检测装置的测定装置。

用于解决问题的方案

为了解决上述课题,本发明采取了以下技术手段。

由本发明的第一个方面提供的试样检测装置,其特征在于,其包括:至少一对光源,其用于对作为试样的供给目的地的检测区域照射光;以及受光元件,其接受从所述一对光源照射到所述检测区域并透过所述检测区域的两束光且输出对应于其受光量的信号,该试样检测装置进一步包括位于所述一对光源和所述检测区域之间的设有至少一个孔的部件,且该试样检测装置以下述方式构成:从所述一对光源发出的两束光在由所述孔规定的路径中行进,并行进至所述检测区域中的彼此位置错开的区域。

优选:所述孔位于所述一对光源排列的方向中的所述一对光源之间,使得从所述一对光源发出的两束光均能入射,所述两束光的路径由一个孔来规定。

优选:本发明的试样检测装置包括判断单元,所述判断单元以下述方式构成:在具有时间差地分别驱动点亮所述一对光源时,从所述受光元件输出的两个信号的水平均处于规定的范围内且所述两个信号的水平差在规定的阈值以下的情况下,判断为试样适当地供给到所述检测区域;另一方面,在不是那样的情况下,判断为试样没有适当地供给到所述检测区域。

优选所述判断单元以下述方式构成:在试样没有供给到所述检测区域的状态下,以分别驱动所述一对光源点亮时从所述受光元件输出的信号为基准信号,在判断试样是否供给到所述检测区域时,将从所述受光元件输出的信号校正为相对于所述基准信号具有相对值的信号,且以该经校正的信号为判断对象。

优选:在本发明的试样检测装置中,从所述一对光源发出的两束光以下述方式构成:所述两束光在所述检测区域中互不重叠,或者它们的重叠宽度小于所述各光的宽度的约4/5。

优选:从所述各光源的发光面扩展为比该发光面的宽度更大的宽度并入射到所述孔中的光,通过所述孔到达所述检测区域。

优选:从所述一对光源发出的两束光的一部分在所述受光元件上相互重叠。

优选:所述检测区域与所述受光元件之间配置了具有追加的孔的部件,该部件允许通过所述检测区域的光向着所述受光元件行进,且抑制没有通过所述检测区域的干扰光向着所述受光元件行进。

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