[发明专利]标准介质悬浮体、光学颗粒测量仪器、以及用于光学颗粒测量仪器的检定方法无效
| 申请号： | 200880106994.8 | 申请日： | 2008-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN101809430A | 公开（公告）日： | 2010-08-18 |
| 发明（设计）人： | P·A·帕伦博 | 申请（专利权）人： | 哈赫公司 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47;G01N21/27 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 刘金凤;王忠忠 |
| 地址： | 美国科*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 根据本发明，提供了一种用于光学颗粒测量仪器的检定和校准且被配置为是被至少部分地浸入样本流体中的标准介质悬浮体(150)。悬浮体(150)包括基本上为固态的外表面，该外表面包括沿着照明轴A设置的第一末端(151)和第二末端(152)以及至少一个外表面(153)。第一末端(151)被配置为接纳入射光。悬浮体还包括内体积。所述内体积的至少一部分包括被配置为散射预定量的入射光的基本悬浮的光散射材料(155)。悬浮体(150)还包括形成在所述第二末端(152)上且包括光吸收材料的端盖(156)。离开第二末端(152)的光基本上被端盖(156)吸收。 | ||
| 搜索关键词： | 标准 介质 悬浮 光学 颗粒 测量 仪器 以及 用于 检定 方法 | ||
【主权项】：
一种适合用于光学颗粒测量仪器的检定的标准介质悬浮体(150)，其被配置为至少部分地浸入样本流体中，该标准介质悬浮体(150)包括：基本上为固态的三维外表面，其包括沿着照明轴A设置的第一末端(151)和第二末端(152)以及在所述第一末端(151)与所述第二末端(152)之间延伸的至少一个外表面(153)，其中，所述第一末端(151)被配置为允许光进入标准介质悬浮体(150)；内体积，其中，所述内体积的至少一部分包括被配置为散射预定量的入射光的基本悬浮的光散射材料(155)；以及端盖(156)，其形成在所述第二末端(152)上并包括光吸收材料，其中，离开所述第二末端(152)的光基本上被所述端盖(156)吸收。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈赫公司，未经哈赫公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200880106994.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：制备合成气的方法和设备
- 下一篇：压缩机用电子电路装置
