[发明专利]标准介质悬浮体、光学颗粒测量仪器、以及用于光学颗粒测量仪器的检定方法无效
申请号: | 200880106994.8 | 申请日: | 2008-09-04 |
公开(公告)号: | CN101809430A | 公开(公告)日: | 2010-08-18 |
发明(设计)人: | P·A·帕伦博 | 申请(专利权)人: | 哈赫公司 |
主分类号: | G01N21/47 | 分类号: | G01N21/47;G01N21/27 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 刘金凤;王忠忠 |
地址: | 美国科*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 标准 介质 悬浮 光学 颗粒 测量 仪器 以及 用于 检定 方法 | ||
1.一种适合用于光学颗粒测量仪器的检定的标准介质悬浮体(150),其被配置为至少部分地浸入样本流体中,该标准介质悬浮体(150)包括:
基本上为固态的三维外表面,其包括沿着照明轴A设置的第一末端(151)和第二末端(152)以及在所述第一末端(151)与所述第二末端(152)之间延伸的至少一个外表面(153),其中,所述第一末端(151)被配置为允许光进入标准介质悬浮体(150);
内体积,其中,所述内体积的至少一部分包括被配置为散射预定量的入射光的基本悬浮的光散射材料(155);以及
端盖(156),其形成在所述第二末端(152)上并包括光吸收材料,其中,离开所述第二末端(152)的光基本上被所述端盖(156)吸收。
2.权利要求1的悬浮体,其中,标准介质悬浮体(150)包括与样本流体折射率基本上匹配的折射率。
3.权利要求1的悬浮体,其中,标准介质悬浮体(150)还包括:
基本上为固态的悬浮材料体;以及
被所述固态悬浮材料保持为悬浮状态的光散射材料。
4.权利要求1的悬浮体,其中,标准介质悬浮体(150)还包括:
基本为固态的悬浮材料体;以及
悬浮材料的至少一部分中的无定形或非无定形分子键。
5.权利要求1的悬浮体,其中,标准介质悬浮体(150)还包括:
基本为固态的悬浮材料体;以及
遍布于悬浮材料的至少一部分的泡。
6.权利要求1的悬浮体,其中,标准介质悬浮体(150)还包括:
外壳;以及
被保持在所述外壳中的悬浮材料,其中,所述悬浮材料包括悬浮的光散射材料。
7.权利要求6的悬浮体,其中,所述悬浮材料包括悬浮液体、悬浮凝胶、半固体或包含在所述外壳内的其它可置位液体。
8.权利要求1的悬浮体,其中,标准介质悬浮体(150)还包括:
在所述标准介质悬浮体(150)的第一末端(151)处的用于允许入射光进入所述标准介质悬浮体(150)的第一光学表面;
在所述第二末端(152)处的用于透射基本上沿着照明轴A基本上传播通过并离开所述标准介质悬浮体(150)的未散射光的第三光学表面;以及
至少部分地在所述第一末端(151)与所述第二末端(152之间延伸的用于透射基本上垂直于照明轴A地离开所述标准介质悬浮体(150)的散射光的第二光学表面;
其中,所述第一末端(151)被抛光而形成第一光学表面,所述第二末端(152)被抛光而形成第三光学表面,其中,所述第一末端(152)和所述第二末端(152)沿着照明轴A设置,且所述第一末端(151)与所述第二末端(152)之间的外表面的至少一部分被抛光而形成所述第二光学表面。
9.一种光学颗粒测量仪器(10),包括:
光源(100),其被布置为沿着照明轴A将光发射到测试室中;
光接收器(106),其被至少部分地布置在所述测试室中并被布置为接收沿光散射路径的光;
基本开放的样本室(103),其被布置在所述照明轴A与所述光散射路径的接合点处,其中,所述样本室(103)被配置为保持样本流体以供测量;以及
标准介质悬浮体(150),其被至少部分地浸入所述样本室(103)中的样本流体中,其中,所述标准介质悬浮体(150)是可去除的且被配置为散射预定量的入射光;
其中,所述光学颗粒测量仪器(10)被配置为:将光发射到所述标准介质悬浮体(150)中,接收被所述标准介质悬浮体(150)散射且已通过样本液体的至少一部分的散射光,以及使用该散射光来执行所述光学颗粒测量仪器(10)的检定。
10.权利要求9的仪器,其中,所述光学颗粒测量仪器(10)被配置为:将光发射到所述标准介质悬浮体(150)中,接收被所述标准介质悬浮体(150)散射且已通过样本流体的至少一部分的散射光,使用接收到的散射光来确定颗粒浓度值,确定所述颗粒浓度值与参考值之间的差,将该差与预定容差范围相比较,如果该差在预定容差范围内则生成检定成功指示,以及如果该差在所述预定容差范围之外则生成检定失败指示。
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