[发明专利]溅射系统无效

专利信息
申请号: 200880105048.1 申请日: 2008-08-21
公开(公告)号: CN101796213A 公开(公告)日: 2010-08-04
发明(设计)人: G·亨宁杰;B·孔谢;K·塞尔;M·拉斯克;T·迪德里克 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;H01J37/34
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 李静岚;谭祐祥
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及一种设备(10),其用于将至少一种所选材料溅射到衬底(5)上并且引起这种材料的反应,该设备包括:真空腔(11),在其中设置衬底架(12);至少一个磁控溅射机构(15),其设置在靠近衬底架(12)的工作区中并且具有所选材料的靶,该靶适合于产生用于将至少一种材料溅射到衬底(5)上的第一等离子体;以及用于产生次要等离子体的次要等离子体机构(16),其设置在靠近磁控溅射机构(15)并且靠近衬底架(12)的工作区中,溅射机构(15)和次要等离子体机构(16)形成溅射区和活化区。设置至少两个电磁体(1、3)和/或放射状磁化的环形磁体以及至少一个磁多极(2)以产生磁场来包含次要等离子体,该磁多极(2)是由多个永久磁体形成的。本发明还涉及一种用于涂覆衬底的方法,其中首先通过溅射工艺将材料沉积在衬底上,然后所沉积的材料在等离子体中反应以形成化合物,该等离子体包含必要的活性反应组分,其中借助于磁场增加等离子体密度和等离子体的电离度,该磁场由至少两个电磁体(1、3)和/或放射状磁化的环形磁体以及至少一个磁多极(2)产生,该磁多极(2)是由多个永久磁体形成的。
搜索关键词: 溅射 系统
【主权项】:
一种设备(10),其用于将至少一种所选材料溅射到衬底(5)上并且引起这种材料的反应,该设备包括:真空腔(11),在其中设置衬底架(12);至少一个磁控溅射机构(15),其设置在靠近衬底架(12)的工作区中并且具有所选材料的靶,该靶适合于产生用于将至少一种材料溅射到衬底(5)上的第一等离子体;以及用于产生次要等离子体的次要等离子体机构(16),其设置在靠近磁控溅射机构(15)并且靠近衬底架(12)的工作区中,溅射机构(15)和次要等离子体机构(16)形成溅射区和活化区,其特征在于:设置至少两个电磁体(1、3)和/或放射状磁化的环形磁体以及至少一个磁多极(2)以产生磁场来包含次要等离子体,该磁多极(2)是由多个永久磁体形成的。
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