[发明专利]具有深度鉴别的光学再现的方法和装置

摘要

本发明涉及一种用于产生光学截面图像的方法和装置。本发明允许对空间扩展物体的三维的、逐层的光学扫描，并且用于显微术，但并被限于这个领域。在所述方法中，在至少一个方向上具有周期性的照明分布(3)投影到平面(9)中，被样本(10)反射和/或散射和/或发射的荧光和/或冷光被成像到空间分辨检测器上。根据本发明，首先执行校准步骤，在校准步骤中，针对检测器(11)上的每个位置确定照明图案的局部相位和/或局部周期。在样本检测模式中，为了计算每个光学截面图像，存在两种投影到样本(10)中或样本上的照明分布，得到的强度分布再现在检测器上。投影和检测这两种照明分布的方法步骤能够根据需要重复执行，尤其是对于样本(10)的不同聚焦位置和/或不同的曝光波长，其中，在局部相位和/或局部周期的辅助下，根据捕捉的强度分布计算至少一个光学截面图像。

主权项

1.一种通过对样本的结构照明来产生光学截面图像的方法，其中，在至少一个空间方向上具有周期性的照明分布被投影到样本平面中，并且，使在样本上反射的光和/或散射和/或发射的荧光和/或冷光在空间分辨检测器上形成图像，其中，存在校准步骤，在该校准步骤中，针对检测器上的每个位置确定照明分布的局部相位和/或局部周期，并且在样本扫描模式中，--为了计算每个光学截面图像，两个照明分布投影到样本中或样本上，并且使得到的光分布在检测器上形成图像，--两个照明分布的投影和检测的处理步骤能够重复任何期望的次数，尤其是对于样本的不同聚焦位置和/或不同的照明波长，以及根据强度分布，在局部相位和/或局部周期的帮助下，从记录的强度分布计算至少一个光学截面图像。