[发明专利]用于半导体领域的新型金属前体有效
申请号: | 200880016880.4 | 申请日: | 2008-05-21 |
公开(公告)号: | CN101680086A | 公开(公告)日: | 2010-03-24 |
发明(设计)人: | C·迪萨拉 | 申请(专利权)人: | 乔治洛德方法研究和开发液化空气有限公司 |
主分类号: | C23C16/18 | 分类号: | C23C16/18;C07F1/08;C07F1/12;C07F1/10 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 林柏楠;刘金辉 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了用于沉积金属膜的方法和组合物。概括而言,本发明公开的方法利用包含金、银或铜的前体化合物。更具体地,本发明公开的前体化合物利用与金属偶合的戊二烯基配体来提高热稳定性。此外,还公开了联合使用其它前体沉积金属膜的沉积铜、金或银的方法。所述方法和组合物可用于多种沉积法中。 | ||
搜索关键词: | 用于 半导体 领域 新型 金属 | ||
【主权项】:
1.在一个或多个基底上沉积金属膜的方法,包括:a)在反应室中提供一个或多个基底;b)将第一前体引入所述反应室中,其中所述第一前体包含具有下式的有机金属化合物:(Op)x(Cp)yM R’2-x-y其中M是第11族金属,Op是开链戊二烯基,Cp是环戊二烯基,R’选自由C1至C12烷基、三烷基甲硅烷基、烷基酰胺基、烷氧基、烷基甲硅烷基、烷基甲硅烷基酰胺基、脒基、CO、SMe2、SEt2、SiPr2、SiMeEt、SiMe(iPr)、SiEt(iPr)、OMe2、OEt2、四氢呋喃(THF)及其组合组成的组,其中Op和Cp可以各自包含选自由氢基、卤基、C1-C4烷基、烷基酰胺基、烷氧基、烷基甲硅烷基酰胺基、脒基、羰基及其组合组成的组的官能团,且其中x是0至1的整数,y是0至1的整数;和c)将所述第一前体蒸发,以在所述一个或多个基底上沉积金属膜。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
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