[发明专利]用于等离子工艺的硅片卡盘装置无效
申请号: | 200880016694.0 | 申请日: | 2008-07-18 |
公开(公告)号: | CN101681866A | 公开(公告)日: | 2010-03-24 |
发明(设计)人: | 金正泰 | 申请(专利权)人: | 泰尼克斯有限公司;金正泰 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 余 朦;王艳春 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 一种用于等离子工艺的硅片卡盘装置,其包括下盘和上盘,在下盘上装载有多个硅片,上盘连接到下盘的上部并固定装载的硅片。上盘由特氟纶、陶瓷和金属中的一种制成,下盘由铝或陶瓷制成。下盘包括钻制的气体给送孔,通过该钻制的气体给送孔给送气体以在等离子工艺过程中均匀地保持每个硅片的温度。在硅片和下盘之间形成等温片和等温涂层中的一个或全部,以保持硅片的温度均匀性。因此,硅片卡盘装置可以在等离子工艺过程中改善每个硅片的边缘区域处的等离子刻蚀图形的均匀性。 | ||
搜索关键词: | 用于 等离子 工艺 硅片 卡盘 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于等离子工艺的硅片卡盘装置,包括:下盘,在所述下盘上装载有多个硅片;以及上盘,连接到所述下盘的上部并固定所装载的硅片,其中,所述上盘具有矩形形状以挤压所述硅片,并且所述上盘沿其上边缘倒角以形成斜面,所述下盘包括底座,所述硅片被放置在所述底座中,所述下盘在其中心处包括气体给送孔以向所述底座给送气体,所述下盘的底座包括等温片和等温涂层的至少之一,所述等温片包括选自基于特氟纶的树脂、基于丙烯酸的树脂、和基于聚酰亚胺的树脂中的一种树脂并具有0.05mm至3mm的厚度,并且所述等温片在其一个表面上具有有机硅胶黏剂。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造