[发明专利]通过施加次级辐射来减少闪烁体中的陷阱效应

摘要

根据本发明的一个实施例，用于探测初级辐射(6)的辐射探测器设备(10)包括：闪烁体(12)，其响应于入射的初级辐射(6)产生经转换的初级辐射；以及光电探测器(14)，其用于探测所述经转换的初级辐射。所述辐射探测器设备(10)还包括次级辐射源(20)，其用于以次级辐射(22)照射所述闪烁体(12)，所述次级辐射(22)具有的波长不同于所述第一辐射(6)的波长并能够为初级辐射产生闪烁体(12)的空间上更均匀的响应。本发明的一个实施例中，辐射探测器设备(10)是X射线成像设备的X射线探测器，其中初级辐射是X射线辐射，并且次级辐射具有350nm和450nm之间的波长。根据一个实施例，具有次级辐射(例如，UV辐射)的照射产生X射线探测器(10)的均匀增益分布。

主权项

1、一种探测器设备(10)，其用于探测初级辐射(6)，所述设备包括：闪烁体(12)，其响应于入射的初级辐射生成经转换的初级辐射；光电探测器(14)，其用于探测所述经转换的初级辐射；次级辐射源(20)，其用于利用次级辐射(22)照射所述闪烁体，从而产生所述闪烁体(12)对初级辐射的空间上更均匀的响应；所述次级辐射具有的波长与所述第一辐射的波长不同。