[发明专利]通过施加次级辐射来减少闪烁体中的陷阱效应

说明书

技术领域

本发明涉及辐射探测器领域，并且更具体的涉及包含闪烁体的辐射探 测器。

背景技术

EP0 642 264 A1公开了用于探测X射线图像的具有半导体图像探测阵 列的图像探测设备，其中由于仿体图像而引起的干扰被充分地减小。根据 这个参考，辐射传感器元件的半导体材料中的电荷捕获引起的延迟电荷转 移导致了这样的干扰。根据所述参考的探测设备包括将辐射敏感元件和读 出线集成到图像探测阵列，其中辐射敏感元件将入射的辐射转换为电荷， 读出线将该电荷转移至读出电路，读出电路布置为将转移电荷转换为初级 电子图像信号。该探测设备还包括校正电路以形成图像校正信号，从而通 过将延迟电荷转移引起的伪影从初级电子图像信号中消除而将初级电子图 像信号转换为经校正的图像信号。可将该图像校正信号组合成图像的指数 衰减信号的叠加，其中所述信号是在对当前探测的图像进行探测之前探测 到的。校正的图像信号随后由该图像校正信号和包含伪影的图像信号组合 而成。

发明内容

有利的是实现一种辐射探测器设备，其克服了仿体图像的问题并提供 均匀空间增益分布。

为了更好的解决这一问题，在本发明的第一方面中，提出一种用于初 级辐射的辐射探测器设备，其包括响应于入射的初级辐射而生成经转换的 初级辐射的闪烁体，和用于探测经转换的初级辐射的光电探测器。该辐射 探测器设备还包括次级辐射源，其利用次级辐射照射闪烁体，其中该次级 辐射具有的波长与第一辐射的波长不同，并为产生闪烁体对初级辐射的空 间上更均匀的响应。根据一个实施例，该次级辐射能够减小闪烁体中的陷 阱诱导效应。减小陷阱诱导效应的机制可包括通过用次级辐射照射闪烁体 来填充陷阱和/或通过用次级辐射照射闪烁体来使陷阱饱和。

本发明的第一方面的优点在于闪烁体的记忆效应，例如，由于之前图 像采集导致的闪烁体的空间非均匀响应，可以被消除或者至少被减小而不 需要用初级辐射照射闪烁体。根据一个实施例，通过用次级辐射照射闪烁 体而消除或者至少减小闪烁体的陷阱诱导效应。

根据一个实施例，次级辐射的波长大于初级辐射的波长。例如，次级 辐射的波长可为非电离辐射，例如具有大于200nm波长的辐射。根据另一 实施例，次级辐射的波长大于300nm。根据另一实施例，次级辐射是UV 光。根据又另一实施例，次级辐射是蓝光。根据又另一实施例，次级辐射 的波长在350nm到450nm的范围之内。

根据又一实施例，次级辐射源包括一个或者多个发光二极管(LED)， 其能够发射次级辐射。

根据一个实施例，初级辐射是X射线辐射。根据其它实施例，初级辐 射是非X射线辐射。根据一个实施例，初级辐射是电离辐射，例如中子辐 射。根据又一实施例，初级辐射是具有小于100nm波长的辐射。

根据又一实施例，探测器设备还包括配置为响应非启动信号来操作次 级辐射源的控制单元，其中该非启动信号指示没有初级辐射。

根据又一实施例，辐射探测器设备还包括配置为在一时间期间内以连 续模式操作次级辐射源的控制单元，其中该时间期间足够长以使闪烁体中 的陷阱饱和。根据一个实施例，次级辐射的强度是这样从而使闪烁体中的 陷阱在预定的时间期间内饱和。

根据又一实施例，辐射探测器设备还包括配置为以脉冲模式操作次级 辐射源的控制单元。

根据又一实施例，辐射探测器设备还包括可操作地产生第三辐射的第 三辐射源，其中该第三辐射适于填充光电探测器内的陷阱(例如，其由初 级辐射诱发)。

根据本发明的第二方面，提出一种成像设备，其包括根据本发明第一 方面的辐射探测器或者其实施例。另外，根据本发明第二方面的成像设备 包括用于生成初级辐射的初级辐射源。

这样的成像设备的例子是X射线成像设备，其中初级辐射是X射线辐 射。然而，初级辐射源可是非X射线辐射源。