[实用新型]集成电路组件堆栈的绝缘结构有效
申请号: | 200820302167.3 | 申请日: | 2008-09-18 |
公开(公告)号: | CN201307592Y | 公开(公告)日: | 2009-09-09 |
发明(设计)人: | 马嵩荃;邹尚志 | 申请(专利权)人: | 茂邦电子有限公司 |
主分类号: | H01L23/50 | 分类号: | H01L23/50 |
代理公司: | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 | 代理人: | 何 为 |
地址: | 中国台湾桃园县芦*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种集成电路组件堆栈的绝缘结构,包含一晶粒;一层叠于晶粒一面上的金属层,该金属层上具有多数连通晶粒的置放区;以及多数分别设于各置放区中的绝缘单元,各绝缘单元可为铝合金物体。藉此,可使晶粒上的绝缘单元达到薄型化、耐电压、耐电流、耐干扰及散热佳的功效。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 组件 堆栈 绝缘 结构 | ||
【主权项】:
【权利要求1】一种集成电路组件堆栈的绝缘结构,其包括晶粒、金属层、及多数绝缘单元,该金属层层叠于上述晶粒的一面上,且该金属层上具有多数连通晶粒的置放区;其特征在于:所述数绝缘单元分别设于所述各置放区中,且各绝缘单元由铝合金制成。
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