[实用新型]芯片封装结构有效

专利信息
申请号: 200820302123.0 申请日: 2008-09-16
公开(公告)号: CN201256147Y 公开(公告)日: 2009-06-10
发明(设计)人: 璩泽明;马嵩荃 申请(专利权)人: 茂邦电子有限公司
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 代理人: 何 为
地址: 中国台湾桃园县芦*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种芯片封装结构,是直接在芯片上形成环氧基紫外负性光刻胶厚膜光阻做为绝缘层,再于此绝缘层上覆防焊层,可在芯片上进行曝光显影后,提供高深宽比线路凹槽,除了可制作厚度大于15微米以上的结构外,其具备的高强度特性,亦可直接用于结构组件上,使之具有良好的结构特性,在硬度较一般光阻为高且与芯片黏着性佳之优势下,与传统使用的材料相比,不仅可节省制造流程,更加便于形成中空结构。如此使本创作可应用于晶圆晶方级尺度型芯片尺寸构装,可在提升厚度的同时,亦使结构的可靠性增加。
搜索关键词: 芯片 封装 结构
【主权项】:
【权利要求1】一种芯片封装结构,其包括一芯片、三绝缘层、数个线路凹槽、一防焊层及一金属层,其特征在于:所述芯片上具有数个芯片座;该三绝缘层分别为被覆于该芯片上的第一绝缘层、被覆于该第一绝缘层上的第二绝缘层、以及被覆于该第二绝缘层上的第三绝缘层;该线路凹槽设置于该芯片上及该第一至第三绝缘层内,其中至少一线路凹槽内含有一个芯片座;该防焊层涂布于第三绝缘层表面,并覆盖该线路凹槽的预定部份;该金属层形成于该芯片座上或该线路凹槽中,并含有数个金属接点,各金属接点连接该防焊层,并电性连接该芯片的芯片座。
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