[实用新型]高精度、高效率温度补偿测试系统无效
申请号: | 200820126746.7 | 申请日: | 2008-06-26 |
公开(公告)号: | CN201213249Y | 公开(公告)日: | 2009-03-25 |
发明(设计)人: | 吴茜;张威;刘贵枝;杨红永 | 申请(专利权)人: | 廊坊中电大成电子有限公司;天津必利优科技发展有限公司 |
主分类号: | H03B5/04 | 分类号: | H03B5/04;G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 065001河北省廊坊市经*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种高精度、高效率温度补偿测试系统,包括定位装置、测试装置、温箱、温度控制系统、载盘、频率接收装置、电压控制装置、视觉系统和软件控制系统,装有工件的载盘通过定位装置放置于温箱内,测试装置将采集到的原始数据通过控制盒等装置输送到软件控制系统,软件控制系统进行处理后将最终结果再通过控制盒等装置返送到工件芯片,完成整个温度补偿测试过程,该系统将采集数据通过软件精确计算得出最佳寄存器数值;根据补偿测试结果快速完成寄存器修正、实现二次补偿;可实现研发人员即时观察补偿测试过程、即时停止程序、即时调整后再运行程序等优点,是一款高精度、高效率温度补偿测试的系统。 | ||
搜索关键词: | 高精度 高效率 温度 补偿 测试 系统 | ||
【主权项】:
1. 一种高精度、高效率温度补偿测试系统,其特征是:本实用型高精度、高效率温度补偿测试系统包括温箱(3)、定位装置(15)、载盘(14)、测试头(13)、电压控制装置(9)和(12)、频率计(7)、视觉系统(8)和软件控制系统(10),将装有工件的载盘(14)由定位装置(15)放于温箱(3)内,测试头(13)将在各个温度下测试到的原始频率数据通过数据线传送到软件控制系统(10),经处理后再通过测试头(13)将寄存器的最佳数值写入工件,补偿结束后,软件控制系统(13)会对补偿后的工件进行测试,并在测试最后一个温度将对超出规格的材料进行二次补偿,整个制作过程中均在电压控制装置(9)设置下,通过频率计(7)进行频率接收,由视觉系统(8)对整个流程进行监控。
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