[实用新型]高精度、高效率温度补偿测试系统无效

专利信息
申请号: 200820126746.7 申请日: 2008-06-26
公开(公告)号: CN201213249Y 公开(公告)日: 2009-03-25
发明(设计)人: 吴茜;张威;刘贵枝;杨红永 申请(专利权)人: 廊坊中电大成电子有限公司;天津必利优科技发展有限公司
主分类号: H03B5/04 分类号: H03B5/04;G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 065001河北省廊坊市经*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 高精度 高效率 温度 补偿 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种高精度、高效率温度补偿测试系统,其特征是:本实用型高精度、高效率温度补偿测试系统包括温箱(3)、定位装置(15)、载盘(14)、测试头(13)、电压控制装置(9)和(12)、频率计(7)、视觉系统(8)和软件控制系统(10),将装有工件的载盘(14)由定位装置(15)放于温箱(3)内,测试头(13)将在各个温度下测试到的原始频率数据通过数据线传送到软件控制系统(10),经处理后再通过测试头(13)将寄存器的最佳数值写入工件,补偿结束后,软件控制系统(13)会对补偿后的工件进行测试,并在测试最后一个温度将对超出规格的材料进行二次补偿,整个制作过程中均在电压控制装置(9)设置下,通过频率计(7)进行频率接收,由视觉系统(8)对整个流程进行监控。

2.根据权利要求1所述的高精度、高效率温度补偿测试系统,其特征是:所述视觉系统(8)对补偿测试进行参数设置、制程监控。

3.根据权利要求1所述的高精度、高效率温度补偿测试系统,其特征是:所述测试头(13)对工件进行频率原始数据收集、寄存器最佳数值读写。

4.根据权利要求1所述的高精度、高效率温度补偿测试系统,其特征是:所述定位装置(15)对载盘进行原点定位。

5.根据权利要求1所述的高精度、高效率温度补偿测试系统,其特征是:所述温箱(3)保障稳定补偿测试的稳定温度环境。

6.根据权利要求1所述的高精度、高效率温度补偿测试系统,其特征是:所述温度监控器(2)对温度进行参数设置、制程监控。

7.根据权利要求1所述的高精度、高效率温度补偿测试系统,其特征是:所述频率计(7)对补偿测试进行频率监控。

8.根据权利要求1所述的高精度、高效率温度补偿测试系统,其特征是:所述电压控制装置(9)对补偿测试进行电压设置。

9.根据权利要求1所述的高精度、高效率温度补偿测试系统,其特征是:所述软件控制系统(10)对补偿测试进行程序控制、数据存储。

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