[实用新型]激光经纬仪测量用反光膜装置无效
| 申请号： | 200820033956.1 | 申请日： | 2008-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN201191182Y | 公开（公告）日： | 2009-02-04 |
| 发明（设计）人： | 李翔;黄贞益;李长宏;吴胜;程丙贵;王道远;李黎明 | 申请（专利权）人： | 南京钢铁股份有限公司;安徽工业大学 |
| 主分类号： | G01C1/02 | 分类号： | G01C1/02 |
| 代理公司： | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 | 代理人： | 余成俊 |
| 地址： | 22003*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种激光经纬仪测量用反光膜装置，其特征在于采用下列结构：(1)方形或矩形磁块或磁片表面贴有反光膜；或者(2)直角形磁块的两内侧表面分别贴有反光膜。本实用新型把反光薄膜粘贴固定在经过精密加工的磁性体上，在测量时把磁性体直接吸附在被测大型设备的机架上，可很好的保证测量精度，操作非常方便，效率较高，节省人力。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 经纬仪 测量 反光 装置 | ||
【主权项】：
1、激光经纬仪测量用反光膜装置，其特征在于采用下列结构：(1)、方形或矩形磁块或磁片表面贴有反光膜；或者(2)、直角形磁块的两内侧表面分别贴有反光膜。
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