[实用新型]激光经纬仪测量用反光膜装置

说明书

技术领域

本实用新型属于一种激光测量设备的附件，具体是激光经纬仪测量用的反光膜装置。

背景技术

在实际工作中，大型工业设备，如轧钢机械，锻压机械，大型机床等，在安装使用一段时间后，机架往往发生变生和基础的沉降等。因此就有必要对大型设备进行必要的测量，以便制定更合理的生产工艺，也能为设备的维修，维护和补救提供可靠的数据。这些测量工作目前均是通过激光经纬仪实现的。

测量时，测量大型设备的变形时，用反光棱镜紧贴在设备的表面，激光经纬仪发射出激光照射在反光棱镜的中心点上，激光经棱镜中心点反射回激光测量仪器，激光测量仪器经计算后，得出棱镜中心点到激光测量仪器中心的三维坐标数据。

但现有的激光经纬仪的反光棱镜不能很好的与设备的工作面相接，定位精度低，造成了测量结果的不准确，而且操作不方便，大大影响了工作效率，同时也进一步的影响了测量精度。因此有必要对现有反光设备进行进一步的改造和创新。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种激光经纬仪测量用反光膜装置，采用反光膜作为反光膜装置，对激光有很好的反射，通过磁铁块作为吸附大型设备的载体，可很好的保证测量精度，操作非常简便。

本实用新型的技术方案如下：

激光经纬仪测量用反光膜装置，其特征在于采用下列结构：(1)、方形或矩形磁块或磁片表面贴有反光膜；或者(2)、直角形磁块的两内侧表面分别贴有反光膜。

本实用新型把反光薄膜粘贴固定在经过精密加工的磁性体上，在测量时把磁性体直接吸附在被测大型设备的机架上，可很好的保证测量精度，操作非常方便，效率较高，节省人力。

附图说明

图1为本实用新型一种结构示意图。

图2为本实用新型另一种结构示意图。

图3为本实用新型再一种结构示意图。

具体实施方式

例1

参见图1。

激光经纬仪测量用反光膜装置，在立方体磁块1表面贴有反射膜2。当测量大型设备正面时，用磁块1的底面吸附在测量面上，测量侧面时用磁块1的侧面吸附。可方便固定，效率高，能很好的保证测量精度。

例2

参见图2。

激光经纬仪测量用反光膜装置，在磁片3表面贴有反射膜2。测量大型设备正面时，将磁片3吸附在测量面上，以进行固定。

例3

参见图3。

激光经纬仪测量用反光膜装置，直角形磁块4的两内侧表面分别贴有反光膜2。可用于大型设备正面和侧面的测量，也可用于间隙的测量。