[发明专利]一种提高三元件磁测精度的方法有效
申请号: | 200810239618.8 | 申请日: | 2008-12-12 |
公开(公告)号: | CN101750632A | 公开(公告)日: | 2010-06-23 |
发明(设计)人: | 王庆乙;李学圣 | 申请(专利权)人: | 中色地科矿产勘查股份有限公司 |
主分类号: | G01V3/26 | 分类号: | G01V3/26;G01V13/00 |
代理公司: | 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 | 代理人: | 徐国文 |
地址: | 100012 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明方法涉及地球物理磁法勘探领域,本方法对厂家生产的三分量磁力仪进行分析标定,使得测得的实际值经过校正后得到大幅度的提高。本方法首先在均匀磁场内测定若干组数据,这些数据需满足高精度计算各元件安装角度偏差的要求。计算出各偏差角后,将在实际探测中测出的重磁分量值直接在计算机上用高精度偏差角校正为高精度的测量结果,此方法提高了磁测精度,可使三分量磁力仪的磁测精度由原来的100-400nT,提高到10-30nT。 | ||
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【主权项】:
一种提高三元件磁测精度的方法,所述方法采用装置包括分析仪器和探测仪器,其特征在于,高精度标定仪器各元件的安装偏差角并对出厂后的测量数据进行校正,内容包括:A、在地面均匀磁场中,将探测仪器三个坐标轴X、Y、Z分别水平指向磁东和磁西后测出各重磁分量的场值;B、(1)用A测得的南北直立剖面中两个重力分量与总重力之比的反余弦求取重力计各坐标轴间的直角偏差值;(2)用A测得的磁南北直立剖面中两个磁力分量与总磁场之比的反余弦求取磁力计各坐标轴间的直角偏差;C、利用A中测出的重磁分量值,经零直角偏差校正后,计算出磁场垂直分量和北向水平分量,用水平分量指东和指西时磁场垂直分量之差与北向水平分量之和的比,求取重磁坐标系对应三轴间的平行偏差值;D、将实际使用中测出的重力计与磁力计的各重磁分量值,在计算机上经零直角偏差和平行偏差校正后得出校正后的高精度重力值和磁力值。
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