[发明专利]用于低渗透气藏的试井分析控制系统及方法有效
| 申请号： | 200810214468.5 | 申请日： | 2008-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN101560879A | 公开（公告）日： | 2009-10-21 |
| 发明（设计）人： | 程时清;李彦尊;安小平;杨天龙 | 申请（专利权）人： | 中国石油大学（北京） |
| 主分类号： | E21B49/00 | 分类号： | E21B49/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 樊一槿 |
| 地址： | 102249*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于低渗透气藏的试井分析控制系统及方法，该方法包括下列步骤：测量一气井在开井一段时间内的井底压力值，得到压力差与时间的关系值；判断所述关系值与预设关系值是否相等，如果相等，则进行下一步骤，否则修正所述预设关系值对应的试井解释参数；将所述预设关系值对应的试井解释参数作为所述气井的试井解释参数；根据所述气井的试井解释参数分析该气井的气体渗流情况，以控制气井开采；其中，所述试井解释参数包括气体滑脱因子、低层渗透率、表皮系数、井筒储集系数、流动系数、地层压力。利用该方法进行的试井解释更符合气藏实际情况，为更准确地进行气藏描述、确定生产制度提供了依据。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 渗透 分析 控制系统 方法 | ||
【主权项】：
1、一种低渗透气藏试井分析控制方法，其特征在于，该方法包括下列步骤：测量一气井在开井一段时间内的井底压力值，得到压力差与时间的关系值；判断所述关系值与预设关系值是否相等，如果相等，则进行下一步骤，否则修正所述预设关系值对应的试井解释参数；将所述预设关系值对应的试井解释参数作为所述气井的试井解释参数；根据所述气井的试井解释参数分析该气井的气体渗流情况，以控制气井开采；其中，所述试井解释参数包括气体滑脱因子、低层渗透率、表皮系数、井筒储集系数、流动系数、地层压力。
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