[发明专利]用于低渗透气藏的试井分析控制系统及方法有效

专利信息
申请号: 200810214468.5 申请日: 2008-08-28
公开(公告)号: CN101560879A 公开(公告)日: 2009-10-21
发明(设计)人: 程时清;李彦尊;安小平;杨天龙 申请(专利权)人: 中国石油大学(北京)
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 樊一槿
地址: 102249*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 渗透 分析 控制系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及气田开发的试井分析领域,尤其涉及一种用于低渗透气藏的 试井分析控制系统及方法。

背景技术

试井是现代油气藏开采过程中了解地层特征的一种技术,试井分析即通 过对井底压力变化的分析,得到实时的地层静动态参数,如地层渗透率、表 皮系数、井储系数、压力边界等,从而为油气藏的合理开采和确定气井的增 产措施提供科学的依据。

在现代试井分析过程中,需要通过试井曲线拟合解释来求得地层参数。 而对于低渗透气藏,由于常规的气藏试井理论没有考虑滑脱效应的影响,不 能准确分析低渗透气藏中的气体运动状态。目前的低渗透气藏试井解释图版 均未考虑滑脱效应的影响,一则拟合解释时无法得到准确的结果;二则常规 拟合无法对滑脱因子参数进行解释。对于气体滑脱因子的计算,现在大多采 用实验方法或经验公式拟合获得,程序繁琐,成本高,且测试范围只局限于 井筒周围几厘米,通用性差。

发明内容

为了解决上述现有技术中指出的低渗透气藏开采过程中所遇到的问题, 本发明提供一种考虑了滑脱效应的用于低渗透气藏的试井分析控制系统及 方法。

本发明提供了一种低渗透气藏试井分析控制方法,该方法包括下列步 骤:测量一气井在开井一段时间内的井底压力值,得到压力差与时间的关系 值;判断所述关系值与预设关系值是否相等,如果相等,则进行下一步骤, 否则修正所述预设关系值对应的试井解释参数;将所述预设关系值对应的试 井解释参数作为所述气井的试井解释参数;根据所述气井的试井解释参数分 析该气井的气体渗流情况,以控制气井开采;其中,所述试井解释参数包括 气体滑脱因子、低层渗透率、表皮系数、井筒储集系数、流动系数、地层压 力。

本发明还提供了一种用于低渗透气藏的试井分析控制系统,该系统包 括:气井压力测量单元,用于测量一气井在开井一段时间内的井底压力值, 得到压力差与时间的关系值;判断单元,用于判断所述气井压力测量单元测 量得到的关系值与预设关系值是否相等;试井解释参数处理单元,用于根据 所述判断单元的判断结果对所述预设关系值对应的试井解释参数作处理,得 到所述气井的试井解释参数,该试井解释参数包括气体滑脱因子、低层渗透 率、表皮系数、井筒储集系数、流动系数、地层压力;试井分析控制单元, 用于根据所述试井解释参数处理单元处理得到的气井的试井解释参数分析 该气井的气体渗流情况,以控制气井开采。

本发明的有益效果在于:提高了试井解释的精确度,为气田开发正确计 算和选取合理的气井工作制度提供了有力保障。指出了利用预设关系值和试 井解释参数(含滑脱因子)与实际井底压力变化比较来解释滑脱因子的新途 径,所测滑脱因子值为压降范围内的平均值,克服了实验方法测试范围小的 不足,节约了测试成本,方便实用,更易推广。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本申请的一部 分,并不构成对本发明的限定。在附图中:

图1为根据本发明实施例的试井分析方法的流程图;

图2为根据本发明实施例的试井分析系统的结构框图;

图3为根据本发明实施例的试井分析系统的应用示意图;

图4为不同滑脱因子下双对数典型曲线关系示意图;

图5为不同滑脱因子下半对数典型曲线关系示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下面结合实 施例和附图,对本发明实施例做进一步详细说明。在此,本发明的示意性实 施例及其说明用于解释本发明,但并不作为对本发明的限定。

一般情况下,试井分析是利用试井解释模型与实际测试数据进行拟合, 通过相应的反运算,得到实际地层的试井解释参数的各项数据。其中,试井 解释模型是通过建立各类试井数学模型,求出各个解,得到各类气藏的压力 变化的压力解,即可用来拟合解释实际试井数据,反求解释参数。例如,将 压力解(压力差与时间的关系)及相应导数在相应的坐标下画成曲线,可得 到各类油气藏的压力变化图,即试井解释图版,将该试井解释图版作为试井 解释模型,即可用来拟合解释实际试井数据,求得实际试井解释参数。一般 的试井解释图版是无量纲压力或无量纲压力对无量纲时间的导数,同无量纲 时间或无量纲量的组合之间的双对数曲线族。

实施例一:

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