[发明专利]用于获得与太赫兹波有关的信息的设备和方法有效
| 申请号： | 200810212464.3 | 申请日： | 2008-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN101377406A | 公开（公告）日： | 2009-03-04 |
| 发明（设计）人： | 井辻健明 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;G01N21/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 康建忠 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及用于获得与太赫兹波有关的信息的设备和方法。所述设备能够获得设置的区域中的透射过样本或被样本反射的太赫兹波的时间波形。延迟单元被配置为改变检测单元检测发自由生成单元生成的太赫兹波的、透射过样本或被样本反射的太赫兹波的定时。波形获得单元被配置为获得通过使用延迟单元所获得的透射太赫兹波的时间波形。可以使用一个以上的延迟单元是可控制的，以便检测单元在与所述时间波形有关的如下区域中检测透射的太赫兹波，所述区域是基于预先存储在存储单元中的与样本有关的信息而设置的。然后，获得该区域中的透射的太赫兹波的时间波形。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 获得 赫兹 有关 信息 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于获得与透射过样本或被样本反射的太赫兹波有关的信息的设备，所述设备包括:生成单元，用于生成太赫兹波；检测单元，用于检测由生成单元生成的、并透射过样本或被样本反射的太赫兹波；延迟单元，用于改变检测单元检测太赫兹波的定时；存储单元，用于预先存储与样本有关的信息；以及波形获得单元，用于获得由延迟单元获得的透射的或反射的太赫兹波的时间波形，其中，延迟单元是可控制的，以允许检测单元在与所述时间波形有关的如下区域中检测太赫兹波，所述区域是基于预先存储在存储单元中的与样本有关的信息而设置的，并且所述区域中的透射的或反射的太赫兹波的时间波形被获得。
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