[发明专利]SOC芯片调试结构及实现调试信息输出的方法无效
| 申请号： | 200810205108.9 | 申请日： | 2008-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN101770420A | 公开（公告）日： | 2010-07-07 |
| 发明（设计）人： | 李源 | 申请（专利权）人： | 上海摩波彼克半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F5/10 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 王洁;郑暄 |
| 地址： | 201204 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种SOC芯片调试结构及实现调试信息输出的方法，调试结构包括内置于SOC芯片中的处理器、现场信息记录器、调试器和发送器，处理器和现场信息记录器通过调试器和发送器与外部接收设备连接。方法包括处理器向调试器写入调试信息、调试器从现场信息记录器中读取记录信息并将调试信息和记录信息传送至发送器、发送器将调试信息和记录信息送至外部接收设备。采用该种SOC芯片调试结构及实现调试信息输出的方法，系统资源占用率低，对系统正常运作没有大的影响，占用的物理面积小，生产成本低，提高了调试效率，结构简单实用，使用便捷高效，工作性能稳定可靠，适用范围较为广泛，为集成电路研发和产品开发的技术进一步发展奠定了坚实的基础。 | ||
| 搜索关键词： | soc 芯片 调试 结构 实现 信息 输出 方法 | ||
【主权项】：
一种SOC芯片调试结构，包括内置于SOC芯片中的处理器，其特征在于，所述的调试结构还包括内置于SOC芯片中的现场信息记录器、调试器和发送器，所述的处理器和现场信息记录器均依此通过所述的调试器和发送器与外部接收设备相连接。
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