[发明专利]SOC芯片调试结构及实现调试信息输出的方法

权利要求书

1.一种SOC芯片调试结构，包括内置于SOC芯片中的处理器，其特征在于，所述的调试结构还包括内置于SOC芯片中的现场信息记录器、调试器和发送器，所述的处理器和现场信息记录器均依此通过所述的调试器和发送器与外部接收设备相连接。

2.根据权利要求1所述的SOC芯片调试结构，其特征在于，所述的调试器中包括控制单元和FIFO单元，所述的处理器和现场信息记录器均依此通过所述的控制单元和FIFO单元与所述的发送器相连接。

3.根据权利要求2所述的SOC芯片调试结构，其特征在于，所述的处理器、现场信息记录器和FIFO单元的数据操作位数均相同。

4.根据权利要求1至3中任一项中所述的SOC芯片调试结构，其特征在于，所述的现场信息记录器为计时器。

5.根据权利要求1至3中任一项中所述的SOC芯片调试结构，其特征在于，所述的发送器为USB接口模块、UART接口模块或者I2C接口模块。

6.根据权利要求1至3中任一项中所述的SOC芯片调试结构，其特征在于，所述的处理器为MCU、CPU或者DSP单元。

7.一种利用权利要求1所述的调试结构实现SOC芯片调试信息输出的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：

(1)所述的处理器在需要发送调试信息时向所述的调试器中写入调试信息；

(2)调试器从所述的现场信息记录器中读取相应的记录信息，并进行将调试信息和记录信息传送至发送器的操作；

(3)所述的发送器将接收到的调试信息和记录信息发送至外部接收设备。

8.根据权利要求7所述的实现SOC芯片调试信息输出的方法，其特征在于，所述的处理器向调试器中写入调试信息的操作为中途不被打断的原子操作。

9.根据权利要求8所述的实现SOC芯片调试信息输出的方法，其特征在于，所述的调试信息的数据长度不超过所述的处理器的数据操作位数，所述的处理器向调试器中写入调试信息的操作在一个时钟周期内完成。

10.根据权利要求7至9中任一项所述的实现SOC芯片调试信息输出的方法，其特征在于，所述的调试器中包括控制单元和FIFO单元，所述的处理器和现场信息记录器均依此通过所述的控制单元和FIFO单元与所述的发送器相连接，所述的调试器将调试信息和记录信息传送至发送器的操作，包括以下步骤：

(11)所述的调试器中的控制单元将接收到的调试信息写入FIFO单元中；

(12)控制单元将所读取到的记录信息紧跟所述的调试信息写入FIFO单元中；

(13)控制单元实时监控FIFO单元，当FIFO单元中有数据时，则控制单元将FIFO单元中的数据按照先进先出的顺序传送给所述的发送器。