[发明专利]一种提高出光效率的发光二极管芯片制造方法无效

专利信息
申请号: 200810203359.3 申请日: 2008-11-25
公开(公告)号: CN101409323A 公开(公告)日: 2009-04-15
发明(设计)人: 李有群;涂江;俞振中;康建 申请(专利权)人: 上海大晨光电科技有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 上海光华专利事务所 代理人: 余明伟;冯 珺
地址: 201206上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明一种提高出光效率的发光二极管芯片制造方法,其包括步骤一,对发光二极管芯片进行划片至衬底,步骤二,采用扩片工艺对划片后的芯片进行扩片,步骤三,配制NaCLO腐蚀液,所述NaCLO腐蚀液采用体积比为1∶9至1∶18之间的NaCLO溶液与水配制,该NaCLO腐蚀液的pH值在4-7之间,步骤四,采用上述NaCLO腐蚀液喷洒扩片后的芯片。本发明主要涉及对芯片侧面进行粗化处理,使光线从内部折射出来,从而提高出光效率。
搜索关键词: 一种 提高 效率 发光二极管 芯片 制造 方法
【主权项】:
1、一种提高出光效率的发光二极管芯片制造方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤一,划片,采用接触划片工艺对芯片进行划片至衬底,步骤二,自制夹具,其包括旋转的底盘、在底盘上方的水泵以及与水泵连接的盛液槽,步骤三,扩片,将塑料膜固定在扩片环,将划片后的芯片贴在塑料膜上,对划片后的芯片按1∶0.4-1∶0.7的比例进行微扩,将扩片环安装于旋转的底盘上,步骤四,配制NaCLO腐蚀液,所述NaCLO腐蚀液采用NaCLO溶液与水按体积比为1∶9至1∶18之间配制,该NaCLO腐蚀液的PH值在4-7之间、温度在35-75℃,步骤五,将配制好的NaCLO腐蚀液倒入腐蚀夹具的盛液槽里,开启转动底盘及水泵喷洒NaCLO腐蚀液开始腐蚀,每片腐蚀40-70秒,步骤六,腐蚀后,用去离子水清洗,再用干燥氮气吹干。
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