[发明专利]一种利用定向分子流校准方向规的方法有效

专利信息
申请号: 200810186288.0 申请日: 2008-12-22
公开(公告)号: CN101458143A 公开(公告)日: 2009-06-17
发明(设计)人: 卢耀文;张涤新;李得天;成永军;赵澜;孙海;马寅光;盛学民 申请(专利权)人: 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所
主分类号: G01L27/00 分类号: G01L27/00
代理公司: 北京理工大学专利中心 代理人: 张利萍
地址: 73000*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明涉及一种利用定向分子流校准方向规的方法,属于真空测量技术领域。该方法通过向稳压室中充入单一成分的气体,并使气体以恒定流量流入上游室,然后通过上游室与校准室间的小孔与抽气口间形成定向分子流。测量出上游室压力Pf,获得方向规平衡室中的标准压力,求出方向规的修正因子p0/p。重复上述过程,根据多个方向规的修正因子p0/p,求出其平均值,由此实现对方向规的校准。采用本发明的校准方向规的方法,校准精度高,使被校准的方向规能够满足航天器上对定向流的测量、空间真空测量、地球表面大气探测以及星球真空环境等领域的需要。
搜索关键词: 一种 利用 定向 分子 校准 方向 方法
【主权项】:
1、一种利用定向分子流校准方向规的方法,其特征在于包括下列步骤:步骤一、对校准室、稳压室、上游室和连接管道进行抽真空操作;步骤二、向稳压室中充入单一成分的气体,并使气体以恒定流量流入上游室,然后通过上游室与校准室间的小孔,将气体引入校准室;步骤三、待上游室的气体压力稳定后,测量上游室压力Pf,通过下式获得方向规平衡室中的标准压力P;其中,Ps为校准室的真空度,ra为小孔的半径,re为方向规入口的半径,L为小孔距方向规入口的距离;步骤四、读取方向规的示值压力p0,求出方向规的修正因子p0/p;步骤五、改变上游室中气体的压力,重复步骤二至步骤四N次,根据N个方向规的修正因子p0/p,求出其平均值。
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