[发明专利]电子照相调色剂、显影剂和使用它们的装置及设备有效
申请号: | 200810184110.2 | 申请日: | 2008-12-11 |
公开(公告)号: | CN101533233A | 公开(公告)日: | 2009-09-16 |
发明(设计)人: | 佐藤修二;菅原淳;岩崎荣介;中沢博;二宫正伸;富田和史 | 申请(专利权)人: | 富士施乐株式会社 |
主分类号: | G03G9/08 | 分类号: | G03G9/08;G03G9/087;G03G9/09;G03G15/08;G03G21/18;G03G15/01 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 丁香兰;谢 栒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种电子照相调色剂、显影剂和使用它们的装置及设备,所述电子照相调色剂包含粘合剂树脂和着色剂,其中,在将由荧光X射线测量在所述调色剂中检出的全部元素的总强度(kcps)设为A且氮的强度设为B的情况下,B/A为0.01~0.5,而且,在以10mV的加速电压进行180秒的离子蚀刻之后由X射线光电子能谱法测定的氮的比例为0.1原子%~7.5原子%。 | ||
搜索关键词: | 电子 照相 调色 显影剂 使用 它们 装置 设备 | ||
【主权项】:
1. 一种电子照相调色剂,所述电子照相调色剂包含:粘合剂树脂;和着色剂,在将由荧光X射线测量在所述调色剂中检出的全部元素的总强度设为A并将氮的强度设为B,且强度的单位均为每秒钟千计数的情况下,B/A为0.01~0.5;并且在以10mV的加速电压进行180秒的离子蚀刻之后由X射线光电子能谱法测定的氮的比例为0.1原子%~7.5原子%。
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