[发明专利]树脂覆盖方法和装置有效

专利信息
申请号: 200810179436.6 申请日: 2008-11-28
公开(公告)号: CN101465292A 公开(公告)日: 2009-06-24
发明(设计)人: 下谷诚;宫崎一弥;小野寺宽 申请(专利权)人: 株式会社迪思科
主分类号: H01L21/30 分类号: H01L21/30;H01L21/312;H01L21/304;B24B37/04
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 陈 坚
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种树脂覆盖方法和装置,该树脂覆盖方法是为了磨削含有起伏和翘曲的晶片以将其加工得平坦、而在晶片的单面覆盖树脂的方法,该方法用树脂覆盖晶片表面,以便可靠地除去晶片的起伏和翘曲,使磨削后的晶片形成得平坦。通过树脂涂布单元(20)将树脂(2)涂布于晶片(1)的背面(1b)。接着,将涂布有树脂的晶片以露出晶片的表面(1a)的方式保持在平台(33)的保持面(33a)上。通过按压构件(38)将保持在平台(33)的保持面(33a)上的晶片从晶片的表面(1a)侧向平台(33)方向按压。当使按压构件(38)的按压垫(41)从晶片离开后,通过UV灯(34)向树脂照射紫外光,使树脂硬化,从而在晶片的背面(1b)形成树脂膜(3)。
搜索关键词: 树脂 覆盖 方法 装置
【主权项】:
1. 一种树脂覆盖方法,其是为了对从结晶块切出的包含起伏和翘曲的晶片的一个面进行磨削以将晶片加工得平坦、而在该晶片的另一个面上覆盖树脂的树脂覆盖方法,其特征在于,上述树脂覆盖方法至少包括:树脂涂布工序,在上述晶片的另一个面上涂布紫外光硬化树脂;晶片保持工序,将涂布有上述紫外光硬化树脂的上述晶片以露出晶片的一个面的方式,保持在具有大致水平的保持面的平台的该保持面上;按压工序,将保持在上述平台的保持面上的上述晶片通过按压构件从晶片的一个面侧向上述平台方向按压;和树脂硬化工序,在使上述按压构件从上述晶片离开后,通过紫外光照射构件向上述紫外光硬化树脂照射紫外光,以使紫外光硬化树脂硬化。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社迪思科,未经株式会社迪思科许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810179436.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top