[发明专利]集成电路的测试系统及方法有效

专利信息
申请号: 200810177359.0 申请日: 2008-11-18
公开(公告)号: CN101446621A 公开(公告)日: 2009-06-03
发明(设计)人: 谢志远;叶俊文 申请(专利权)人: 晨星软件研发(深圳)有限公司;晨星半导体股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京市浩天知识产权代理事务所 代理人: 刘云贵
地址: 518057广东省深圳市高*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种集成电路的测试系统及方法,可大幅地降低测试系统的电路成本,且提供了更具有效率的测试机制。包含有:一第一集成电路,用以调变一第一讯号以产生一第一调变后讯号并传送该第一调变后讯号,以及接收一第二调变后讯号并解调变该第二调变后讯号以产生一第二讯号;一第一回路天线,耦接至该第一集成电路,用以接收该第一调变后讯号并将该第一调变后讯号回传至该第一集成电路以作为该第二调变后讯号;以及一测试电路,耦接至该第一集成电路,用以产生该第一讯号至该第一集成电路,由该第一集成电路接收该第二讯号,并比较该第一讯号以及该第二讯号以判断该第一集成电路之的功能是否正常。
搜索关键词: 集成电路 测试 系统 方法
【主权项】:
1. 一种集成电路的测试系统,其特征在于,其包含有:一第一集成电路,用以调变一第一讯号以产生一第一调变后讯号并传送该第一调变后讯号,以及用以接收一第二调变后讯号并解调变该第二调变后讯号以产生一第二讯号;一第一回路天线,耦接至该第一集成电路,用以接收该第一调变后讯号并将该第一调变后讯号回传至该第一集成电路以作为该第二调变后讯号;以及一测试电路,耦接至该第一集成电路,用以产生该第一讯号至该第一集成电路,自该第一集成电路接收该第二讯号,并比较该第一讯号以及该第二讯号以判断该第一集成电路的功能是否正常。
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