[发明专利]具有多晶粒的半导体组件封装结构及其方法无效

专利信息
申请号: 200810173135.2 申请日: 2008-10-30
公开(公告)号: CN101728368A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 杨文焜;林殿方 申请(专利权)人: 育霈科技股份有限公司
主分类号: H01L25/00 分类号: H01L25/00;H01L23/488;H01L23/31;H01L21/50;H01L21/60;H01L21/56;H01L21/78
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周长兴
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种具有多晶粒的半导体组件封装结构及其方法。本发明的具有多晶粒的半导体组件封装结构包含基板,其具有晶粒接收通孔,导电连接通孔结构,其与基板的上表面上的第一接触垫及基板的下表面上的第二接触垫相耦合。具有第一接合垫的第一晶粒设置于上述晶粒接收通孔内。第一黏着材料形成于上述晶粒之下,而第二黏着材料填充于上述晶粒与基板的晶粒接收通孔的侧壁间的间隔内。接着,第一导线加以形成以耦合第一接合垫及第一接触垫。再者,具有第二接合垫的第二晶粒附着于上述第一晶粒上。第二导线加以形成以耦合第二接合垫及第一接触垫。复数介电层形成于上述第一及第二导线、第一及第二晶粒以及基板上。
搜索关键词: 具有 多晶 半导体 组件 封装 结构 及其 方法
【主权项】:
一种半导体组件封装结构,其特征在于,包含:一基板,其具有至少一晶粒接收通孔及一导电连接通孔结构,且通过该导电连接通孔结构与该基板的上表面上的第一接触垫及该基板的下表面上的第二接触垫相耦合;至少一第一晶粒,其具有第一接合垫且系设置于该晶粒接收通孔内;一第一黏着材料,其形成于该第一晶粒之下;一第二黏着材料,其填充入该第一晶粒与该基板的该晶粒接收通孔的侧壁间的间隔内;一第一导线,其加以形成以耦合该第一接合垫与该第一接触垫;至少一第二晶粒,其具有第二接合垫且附着于该第一晶粒上;一晶粒附着材料,其形成于该第二晶粒之下;一第二导线,其加以形成以耦合该第二接合垫与该第一接触垫;以及复数介电层,其形成于该第一及第二导线、该第一及第二晶粒以及该基板之上。
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