[发明专利]光学测量装置和设备及使用光学测量装置的微小粒子测量设备有效
| 申请号： | 200810170505.7 | 申请日： | 2008-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN101413866A | 公开（公告）日： | 2009-04-22 |
| 发明（设计）人： | 古木基裕;篠田昌孝;今西慎悟 | 申请（专利权）人： | 索尼株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 余 刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明披露了一种光学测量装置和设备以及使用光学测量装置的微小粒子测量设备，该光学测量装置包括：彼此平行延伸的多个微流体通道；以及用于沿微流体通道被并置的扫描方向扫描多个测量光束的扫描装置，从而光学测量导入到所述微流体通道中的微小粒子。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 装置 设备 使用 微小 粒子 | ||
【主权项】：
1. 一种光学测量装置，包括：多个微流体通道，彼此平行地延伸；以及扫描装置，用于沿所述微流体通道被并置的扫描方向扫描多个测量光束，从而光学测量导入到所述微流体通道中的微小粒子。
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