[发明专利]光学测量装置和设备及使用光学测量装置的微小粒子测量设备

权利要求书

1.一种光学测量装置，包括：

多个微流体通道，彼此平行地延伸；以及

扫描装置，用于沿所述微流体通道被并置的扫描方向扫 描多个测量光束，所述多个测量光束被以沿所述扫描方向彼此 间隔的方式照射和扫描，从而光学测量导入到所述微流体通道 中的微小粒子，

当所述测量光束之一照射在所述微流体通道之一上时，

其他测量光束不照射在任一个所述微流体通道上，

其中，沿所述扫描方向的所述微流体通道的微流体通道 宽度由w_channel表示，沿所述扫描方向的两个相邻测量光束之 间的距离中的最小距离D(min)和所述测量光束的斑点宽度W 满足以下表达式(1)：

w_channel+W＜D(min)...(1)。

2.根据权利要求1所述的光学测量装置，其中，沿所述扫描方向 的所述微流体通道之间的距离由d_channel表示，所述测量光束的 数目N、从所述测量光束中所选的两个相邻测量光束之间沿所 述扫描方向的最大距离D(max)和所述测量光束的所述斑点宽 度W满足以下表达式(2)：

D(max)×(N-1)+W＜d_channel...(2)。

3.根据权利要求1所述的光学测量装置，其中，所述扫描方向的 所述微流体通道之间的各个距离被分为沿所述扫描方向的预 定尺寸的多个区，每个所述测量光束照射在一个所述区中，且 其中照射有一个所述测量光束的一个所述区与其中照射有另 一个所述测量光束的另一个所述区互不相同且彼此不连续。

4.根据权利要求1所述的光学测量装置，其中，所述微流体通道 被置于可交换部件上。

5.一种微小粒子测量设备，包括：

光学测量装置，包括彼此平行延伸的多个微流体通道和 用于沿所述微流体通道被并置的扫描方向扫描多个测量光束、 所述多个测量光束被以沿所述扫描方向彼此间隔的方式照射 和扫描、从而光学测量导入到所述微流体通道中的微小粒子的 扫描装置，

当所述测量光束之一照射在所述微流体通道之一上时，

其他测量光束不照射在任一个所述微流体通道上，

其中，沿所述扫描方向的所述微流体通道的微流体通道 宽度由w_channel表示，沿所述扫描方向的两个相邻测量光束之 间的距离中的最小距离D(min)和所述测量光束的斑点宽度W 满足以下表达式(1)：

w_channel+W＜D(min)...(1)。

6.一种光学测量设备，包括：

可交换部件；以及

光学测量装置，包括彼此平行延伸的多个微流体通道和 用于沿所述微流体通道被并置的扫描方向扫描多个测量光束、 从而光学测量导入到所述微流体通道中的微小粒子的扫描装 置；

所述微流体通道以沿所述扫描方向彼此预定间隔的关系 排列，同时所述测量光束被以沿所述扫描方向彼此间隔的方式 照射和扫描；

所述微流体通道具有满足以下表达式(3)的沿所述扫描 方向的微流体通道宽度w：

w+W_spot＜D(min)...(3)

其中，W_spot是沿所述扫描方向的所述测量光束的斑点宽 度，以及D(min)是沿所述扫描方向的两个所述测量光束之间 的距离中的最小距离。

7.根据权利要求6所述的光学测量设备，其中，所述测量光束的 数目由N_λex表示，以及沿所述扫描方向的两个相邻测量光束 之间的距离中的最大距离由D(max)表示，沿所述扫描方向的 所述微流体通道之间的距离d满足以下表达式(4)：

D(max)×(N_λex-1)+W_spot＜d...(4)。

8.一种光学测量设备，包括：

可交换部件；以及

光学测量装置，包括彼此平行延伸的多个微流体通道和 用于沿所述微流体通道被并置扫描方向扫描多个测量光束、从 而光学测量导入到所述微流体通道中的微小粒子的扫描装置；

所述微流体通道以沿所述扫描方向彼此预定间隔的关系 排列，同时所述测量光束被以沿所述扫描方向彼此间隔的方式 照射和扫描；

沿所述扫描方向的所述微流体通道之间的各个距离被分 为沿所述扫描方向的预定尺寸的多个区，每个所述测量光束照 射在一个所述区中，同时，其中照射有一个所述测量光束的一 个所述区与其中照射有另一个所述测量光束的另一个所述区 互不相同且彼此不连续，

当所述测量光束之一照射在所述微流体通道之一上时， 其他测量光束不照射在任一个所述微流体通道上，

其中，沿所述扫描方向的所述微流体通道的微流体通道 宽度由w_channel表示，沿所述扫描方向的两个相邻测量光束之 间的距离中的最小距离D(min)和所述测量光束的斑点宽度W 满足以下表达式(1)：

w_channel+W＜D(min)...(1)。