[发明专利]转轴的空行程检测装置及其检测方法有效
申请号: | 200810165642.1 | 申请日: | 2008-09-19 |
公开(公告)号: | CN101676679A | 公开(公告)日: | 2010-03-24 |
发明(设计)人: | 陈威仲;徐华锋 | 申请(专利权)人: | 兆利科技工业股份有限公司 |
主分类号: | G01B5/04 | 分类号: | G01B5/04 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明一种转轴的空行程检测装置,其包括:一基座,为一平台;一支承座,其供转轴的装设,使该转轴的固定件固设于该支承座之上,且令该转轴的旋转件外露于该支承座之后方;一立柱,其间隔地设于该支承座后方,该立柱朝向支承座的前表面纵向设有一基准线,其两侧等距地各设有一公差线;以及一操作手柄,为一板状体,其底部具有一接合部,用以套接该转轴位于支承座与立柱的旋转件,该接合部向上延伸一握持部,其背面对应基准线突设一指针;通过对握持部进行正、逆向旋转,使转轴的旋转件触及连动元件时,若指针位于两公差线之外,即代表该转轴具有超出公差值的空行程。 | ||
搜索关键词: | 转轴 行程 检测 装置 及其 方法 | ||
【主权项】:
1.一种转轴的空行程检测装置,其特征在于包括:一基座,为一平台;一支承座,其是装设于基座之上,并供转轴的装设,使该转轴的固定件固设于该支承座之上,且令该转轴的旋转件外露于该支承座之后方;一立柱,其固设于基座之上,并间隔地设于该支承座后方,该立柱朝向支承座的前表面纵向设有一基准线,其两侧等距地各设有一公差线;以及一操作手柄,为一板状体,其底部具有一接合部,用以套接该转轴位于支承座与立柱的旋转件,该接合部向上延伸一握持部,其背面对应基准线突设一指针;通过对握持部进行正、逆向旋转,使转轴的旋转件触及连动元件时,若指针位于两公差线之外,即代表该转轴具有超出公差值的空行程。
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