[发明专利]转轴的空行程检测装置及其检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测装置，尤指一种转轴空行程检测装置。尤有进者， 本发明进一步提供一种转轴空行程检测方法。

背景技术

一般具掀盖的消费性电子产品，例如可携式计算机、行动电话、电子 辞典及携带型影音播放装置….等，其大抵是在一本体部及一盖体部之间 以至少一转轴进行枢接，使该盖体部相对于本体部可为之开合。因此，转 轴亦为决定上述产品是否优良的一大要因。

如图1所示，乃现有待检测的串接式，亦即所谓的轴向摩擦式转轴的 示意图，该转轴10是在一支架20的轴向开设一轴孔，另将一枢轴30穿 越该轴孔后，再行套接至少一弹性体40及一垫片50，并将该枢轴30的自 由端进行端封，例如以防脱帽螺合，或者与垫片50进行铆接，以迫紧该 弹性体40，使扭力产生在支架20与枢轴30的接触面。通常为增加转轴的 其它特殊功能，例如自动闭锁的功能，该支架20会进一步连接由一闭锁 固定件601及一闭锁旋转件602所组合的凸轮构件60。此外，该枢轴30 末端进一步接装于一衔接部301，以便当该衔接部301旋转时，可同步带 动该枢轴30旋转。其中，该闭锁旋转件602供枢轴30穿越，并与之连动。 所以，该闭锁旋转件602轴向开设断面与枢轴相符的孔洞，以形成连动关 系；因此该闭锁旋转件602可将之视为枢轴30的连动元件。

但该闭锁旋转件的孔洞或枢轴因制作不当而使公差大于默认值时，以 致枢轴与该构件孔洞套接后，使两者间具有间隙的存在，而该间隙在枢轴 旋转时，会先形成一小段的空行程，接着才带动该等构件同步旋转，此举 往往造成使用者在操作时产生不顺畅的感觉。因此，如何提供一种转轴的 空行程检测装置，以排除具有空行程的不良转轴，从而增加良率，此乃相 关业者亟待克服的难题。

有鉴于此，本发明申请人本着多年来从事转轴设计及产销的经验，潜 心研究，期能克服具有空行程的转轴难以检测的缺失，希冀提供一种检测 装置及检测方法，以排除前述的不良品，经再三实验与测试，进而发展出 本发明的「转轴的空行程检测装置及其检测方法」。

发明内容

本发明主要目的在于提供一种结构简单，且操作简便的转轴的空行程 检测装置。

为达前述的目的，本发明所采取的技术手段是提供一种转轴的空行程 检测装置，其包括：一基座，为一平台；一支承座，其装设于基座之上， 并供转轴的装设，使该转轴的固定件固设于该支承座之上，且令该转轴的 旋转件外露于该支承座之后方；一立柱，其固设于基座之上，并间隔地设 于该支承座后方，该立柱朝向支承座的前表面纵向设有一基准线，该基准 线两侧等距地各设有一公差线；以及一操作手柄，为一板状体，其底部具 有一接合部，用以套接该转轴位于支承座与立柱的旋转件，该接合部向上 延伸一握持部，该握持部背面对应基准线突设一指针；通过对握持部进行 正、逆向旋转，使转轴的旋转件触及连动元件时，若指针位于两公差线之 外，即代表该转轴具有超出公差值的空行程。

本发明次要目的在于提供一种操作简便，且空行程检测率高的转轴的 空行程检测方法。

为达成前述的目的，本发明所采取的另一技术手段提供一种转轴的空 行程检测方法，其包括：提供一检测装置，其是在一基座顶面间隔地相对 设置一支承座及一立柱，该立柱朝向支承座的前表面纵向设有一基准线， 该基准线两侧等距地各设有一公差线；将一待检测转轴架设于支承座之 上，使该转轴的固定件固设于该支承座之上，该转轴的旋转件外露于该支 承座，并位于该支承座与立柱之间；提供一操作手柄，其底部的接合部套 接该转轴的旋转件，且该接合部向上延伸的握持部背面对应基准线突设一 指针；以及通过旋转该操作手柄，使该转轴的旋转件触及连动元件时，通 过该指针相对于立柱的两公差线的指示，以判定该转轴是否具有空行程。

为进一步揭示本发明的具体技术内容，首先请参阅图式，其中：

附图说明

图1为现有待检测转轴的立体图；

图2是本发明转轴的空行程检测装置及待检测转轴的立体分解图；

图3为该待检测转轴装设于本发明检测装置的立体图；

图4为图3的侧视图；

图5为本发明检测装置进行检测的示意图；

图6为本发明检测装置检测出具有空行程转轴的示意图。

具体实施方式