[发明专利]一种实现存储器缺陷映射表的系统和方法有效
| 申请号： | 200810145712.7 | 申请日： | 2008-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN101369245A | 公开（公告）日： | 2009-02-18 |
| 发明（设计）人： | M·P·哈尔特里;J·D·派克;F·E·诺罗德;B·S·特拉维斯 | 申请（专利权）人： | 戴尔产品有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F12/02 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人： | 周建秋;王凤桐 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明在此公开一种用于管理信息处理系统中存储器缺陷的系统和方法。在信息处理系统中，第一容量存储器例如随机存取存储器，可以包含有缺陷的存储器部分。第二容量存储器与所述第一容量存储器在物理上连接，并用来存储存储器缺陷映射表，该映射表包含关于第一容量存储器中的缺陷部分的位置的信息。所述存储器缺陷映射表会被BIOS或操作系统所参考，从而避免使用包含有缺陷存储器部分的存储区域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 实现 存储器 缺陷 映射 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于管理存储器缺陷的系统，该系统包括：第一容量存储器；第二容量存储器；存储器缺陷映射表，其中所述存储器缺陷映射表包含关于所述第一容量存储器的信息并被存储在所述第二容量存储器中。
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