[发明专利]一种实现存储器缺陷映射表的系统和方法有效

专利信息
申请号: 200810145712.7 申请日: 2008-08-11
公开(公告)号: CN101369245A 公开(公告)日: 2009-02-18
发明(设计)人: M·P·哈尔特里;J·D·派克;F·E·诺罗德;B·S·特拉维斯 申请(专利权)人: 戴尔产品有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F12/02
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 代理人: 周建秋;王凤桐
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 一种 实现 存储器 缺陷 映射 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种用于管理存储器缺陷的系统,该系统包括:

第一容量存储器;

第二容量存储器;

处理器,其中所述处理器可操作用于检测所述第一容量存储器的有缺陷 部分,至少一个所述有缺陷部分还包括至少一个缺陷块和至少一个无缺陷存 储块;

存储于所述第二容量存储器内的存储器缺陷映射表包含有关所述第一 容量存储器的所述有缺陷部分的信息,且被布置为由运行信息处理系统的操 作系统获取,以使得基于存储在所述存储器缺陷映射表中的信息来从所述信 息处理系统隐藏所述第一容量存储器的有缺陷部分。

2.根据权利要求1所述的系统,其中所述第二容量存储器是非易失性 的。

3.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一容量存储器和第二容量 存储器物理上相连。

4.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一容量存储器是随机存取 存储器。

5.根据权利要求1所述的系统,其中所述第二容量存储器是只读存储 器。

6.根据权利要求5所述的系统,其中只读存储器的一部分被保留给串 行存在检查信息。

7.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一容量存储器和第二容量 存储器被包含于双列直插式存储模块中。

8.一种用于管理存储器缺陷的方法,该方法包括:

检测第一容量存储器的有缺陷部分,至少一个所述有缺陷部分还包括至 少一个缺陷块和至少一个无缺陷存储块;

创建存储器缺陷映射表,该存储器缺陷映射表包含有关所述第一容量存 储器的所述有缺陷部分的信息;

存储所述存储器缺陷映射表;以及

基于存储在所述存储器缺陷映射表中的信息来从信息处理系统隐藏所 述第一容量存储器的有缺陷部分。

9.根据权利要求8所述的方法,其中所述存储器缺陷映射表被存储在 第二容量存储器中。

10.根据权利要求8所述的方法,其中所述存储器缺陷映射表和所述第 一容量存储器物理上相连。

11.根据权利要求8所述的方法,其中所述存储器缺陷映射表被用来从 运行于所述信息处理系统上的操作系统隐藏缺陷存储器。

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