[发明专利]一种双偏置参数圆轮廓测量模型与偏置误差分离方法无效
| 申请号： | 200810136908.X | 申请日： | 2008-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN101339021A | 公开（公告）日： | 2009-01-07 |
| 发明（设计）人： | 谭久彬;黄景志 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01B21/20 | 分类号： | G01B21/20;G01B21/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 150001黑龙江*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 双偏置参数圆轮廓测量模型与偏置误差分离方法属于表面形状测量技术领域；该模型中同时包含被测试件偏心误差(e，α)和传感器测头偏移误差d两个偏置误差分量，其测量模型为ρi＝ecos(θi－α)+((ro+Δri)2－(d+esin(θi－α))2)1/2，采用参数优化的方法实现对偏置误差参量和模型中其它参量的精确估计与直接求解，进而在测量数据中逐一分离出偏置分量，获得被测试件真实的圆轮廓；本发明提出的测量模型能够完整精确地反映各偏置误差分量对圆轮廓测量的影响，克服了目前普遍使用的测量模型存在的原理缺陷及参数估计精度低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 偏置 参数 轮廓 测量 模型 误差 分离 方法 | ||
【主权项】：
1、一种双偏置参数圆轮廓测量模型，其特征在于该模型中同时包含被测试件偏心误差(e，α)和传感器测头偏移误差d两个偏置误差分量，其测量模型为：ρi＝ecos(θi-α)+((ro+Δri)2-(d+esin(θi-α))2)1/2，i＝0，1，2，...，N-1式中，ρi-被测试件圆轮廓上某点至瞬时测量中心o′的距离；d-传感器测头偏移误差；e-被测试件偏心量；α-偏心角；θi-转角位置；ro-最小二乘圆半径；Δri-被测试件圆轮廓上某点至最小二乘圆的偏差；N-采样点数。
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