[发明专利]红外目标温度校正系统和方法有效
| 申请号： | 200810134154.4 | 申请日： | 2008-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN101435721A | 公开（公告）日： | 2009-05-20 |
| 发明（设计）人： | F·E·利布曼 | 申请（专利权）人： | 弗卢克公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 陈松涛;王 英 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了红外(IR)温度计校准系统和方法，其中，控制IR温度计校准系统的温度，从而使目标在指定输入温度上发射的辐射等于灰体所发射的辐射，所述灰体被加热至所述输入温度并且其发射率等于将要采用所述IR温度计校准系统进行校准的IR温度计的发射率设置。 | ||
| 搜索关键词： | 红外 目标 温度 校正 系统 方法 | ||
【主权项】：
1、一种用于校准红外目标的方法，包括：获取红外目标的多个第一辐射亮度测量值，其中，在将红外目标加热到多个目标设定温度之一的情况下获取所述多个辐射亮度测量值中的每一个；对于每一个第一辐射亮度测量值，计算辐射亮度等于所述第一辐射亮度测量值并且发射率基本上等于红外温度计的发射率设置的灰体的表观温度；将所述表观温度中的每一个映射到所述多个设定温度中对应于所述多个辐射亮度测量值中的同一辐射亮度测量值的一个设定温度；将校准温度输入到耦合到所述红外目标的控制器中；将所述目标加热到一个设定温度，该设定温度是所述多个设定温度中被映射到所述多个表观温度中对应于所述校准温度的一个表观温度的一个设定温度；利用具有所述发射率设置的红外温度计来获取对所述目标的辐射亮度测量值；以及对所述红外温度计进行校准，以便将所述辐射亮度测量值映射到所述校准温度。
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