[发明专利]用于散射仪的反射折射式光学系统有效

专利信息
申请号: 200810133692.1 申请日: 2008-07-18
公开(公告)号: CN101349804A 公开(公告)日: 2009-01-21
发明(设计)人: Y·K·什马利威;斯坦尼斯拉·Y·斯摩诺伍;伊瑞娜·I·波兹恩斯卡亚 申请(专利权)人: ASML控股股份有限公司
主分类号: G02B17/08 分类号: G02B17/08;G03F7/20
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 王波波
地址: 荷兰维*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明公开了一种具有高数值孔径的用于散射仪的反射折射式光学系统,所述光学系统在宽的光谱范围内工作。所述光学系统包括修正板、第一反射表面和第二反射表面。所述修正板调节电磁辐射以修正至少一种像差。所述第一反射表面被定位用于反射由所述修正板所调节的电磁辐射。所述第二反射表面被定位用于将由第一反射表面反射的电磁辐射聚焦到衬底的目标部分上。由第一反射表面反射并由第二反射表面聚焦的电磁辐射不被折射元件折射,因此能够使得所述反射折射式光学系统在宽的光谱范围内工作。
搜索关键词: 用于 散射 反射 折射 光学系统
【主权项】:
1.一种反射折射式光学系统,所述反射折射式光学系统包括:修正板,所述修正板用于调节电磁辐射、以修正至少一种像差;第一反射表面,所述第一反射表面被定位以反射由所述修正板所调节的电磁辐射;和第二反射表面,所述第二反射表面被定位以将由所述第一反射表面反射的电磁辐射聚焦到衬底的目标部分上,其中,由所述第一反射表面反射并由所述第二反射表面聚焦的电磁辐射不被光学元件所折射,因此允许所述反射折射式光学系统能够在宽的光谱范围内工作。
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