[发明专利]延迟时间控制电路于电池保护器中减少延迟时间有效
| 申请号： | 200810131389.8 | 申请日： | 2008-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN101651333A | 公开（公告）日： | 2010-02-17 |
| 发明（设计）人： | 施格 | 申请（专利权）人： | 新德科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H02H7/18 | 分类号： | H02H7/18 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 任默闻 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一电池保护IC，该电池保护IC使用充电控制接脚Cout作为IC测试(CP或FT测试)时使用，以减少延迟时间，该电池保护IC具有一延迟时间控制电路、一比较器以及一信号延迟选择器，该比较器具有一负输入端、一正输入端以及一输出端，该负输入端与VCC相连接，该正输入端与该Cout接脚相连接，该输出端与该信号延迟选择器相连接；为了执行上述的测试，加入一电压源以触发该短延迟时间模块，而非触发一常规延迟时间模块。 | ||
| 搜索关键词： | 延迟时间 控制电路 电池 保护 减少 | ||
【主权项】：
1.一种电池保护IC，当执行晶片测试阶段或最终测试时，该电池保护IC使用充电控制接脚Cout以减少延迟时间，其特征在于，该电池保护IC包括：一延迟时间控制电路，具有一比较器以及一信号延迟选择器，其中，该比较器具有一负输入端、一正输入端以及一输出端，该负输入端与VCC相连接，该正输入端与所述的Cout接脚相连接，所述的输出端与所述的信号延迟选择器相连接；以及一电压源，与所述的Cout接脚相连接，当执行晶片测试阶段或最终测试时，触动所述的延迟时间控制电路进以减少延迟时间。
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