[发明专利]延迟时间控制电路于电池保护器中减少延迟时间

说明书

技术领域

本发明是关于一延迟时间控制电路，特别是指一电池保护集成电路，该 电池保护整合电路嵌入一延迟时间控制电路，因此，执行测试过程时，测试 时间可以大幅地减少。

背景技术

为了保护一相当普遍但不幸地却是相对昂贵的锂离子/锂聚合物可再充电 电池，保护锂电可再充电电池以对抗过充或过电流的发生，通常会嵌入电池 保护器，或称电池保护IC，为防止误动作例如噪声等问题的去除，现有技术 的电池保护器通常有一内部延迟电路。典型的过充延迟时间大约介于0.1秒至 2.0秒间。

然而，于电池保护IC的测试阶段，为了求得过充条件(overcharge)的参数， 许多次的测试是必要的，因此全部所花的时间就相当可观，因此，对大量的 保护IC产品作测试是非常不利的；此外，一般现有技术，如图1所示，包括 五内建接脚，VCC、VSS、Dout、COUT、Vm以及一额外的测试接脚DS 以减少执行晶片阶段测试时的延迟时间(CP测试)，以找出过充条件，现有技 术对于最后阶段测试时(FT测试，即封装后电池保护IC)，将测试接脚延伸出 来是必要的。

发明内容

本发明的目的是揭示一延迟时间控制电路嵌入于该电池保护IC以减少执 行CP或FT测试的延迟时间。

本发明的另一目的是减少测试时间。

根据本发明的技术，一控制接脚Cout被用以减少电池保护IC测试所需 的延迟时间，无须外加测试接脚；电池保护IC具有一延迟时间控制电路，延 迟时间控制电路包括一比较器以及一信号延迟选择器，比较器具有一负输入 端、一正输入端以及一输出端，负输入端与电池保护IC的电源电压相连接， 正输入端与该Cout接脚相连接，输出端与信号延迟选择器相连接。为了执行 上述测试，需外加一电压源以触发延迟控制电路，延迟控制电路输出一短延 迟时间，而非输出一正规的延迟时间；电流探针是用以检测流通过电流的变 化，以检测电池保护IC的过充现象。

附图说明

图1，现有技术具有一外加DS接脚以减少延迟时间；

图2，本发明的比较器嵌入于电池保护IC的示意图；

图3，本发明的电池保护IC具有延迟时间控制电路连接一电压源，以触 动延迟时间控制电路；

图4，本发明的实施例数个关键点频率变化图。

附图标号：

VCC、VSS、Dout、COUT、Vm 接脚

DS  测试接脚

CP  晶片测试

FT  最终测试

D0  二极管

10  保护IC

20  比较器

30  信号延迟选择器

40  延迟时间电路

50  过充检测电路

M0、M1、M2、M3、M4、M5、M6、M7 晶体管

G0  控制信号

V、VSD 电压

Id  汲极电流

μ 电荷迁移率

C_OX 单位面积包含闸极氧化层的电容

L2、L3 通道长度

W2、W3 通道宽度

Iprob0 电流计

R1 电阻器

V0、V1 电压源

FET-2N 型晶体管

具体实施方式

关于本发明的技术，可以通过以下发明详述及附图，得到进一步的了解。

在说明本发明的技术前，先就电池保护IC的五内建接脚，VCC、VSS、 Dout、COUT、Vm做一说明：VCC为电源端及电压检测端，VSS为接地端、 COUT为外接控制过充(overcharge)晶体管的控制端、Dout为外接控制过放 (overdischarge)晶体管的控制端，Vm为电流检测端。