[发明专利]SOI基板的制造方法及半导体装置的制造方法有效
申请号: | 200810127386.7 | 申请日: | 2008-06-27 |
公开(公告)号: | CN101335188A | 公开(公告)日: | 2008-12-31 |
发明(设计)人: | 大沼英人;今林良太;饭洼阳一;牧野贤一郎;永松翔 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/20;H01L21/762;H01L21/84;H01L21/336;H01L21/265;H01L21/268;H01L21/304 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 张鑫 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的目的在于提供一种SOI基板的制造方法,该SOI基板具备即使在使用玻璃基板等耐热温度低的基板时也可以满足实用的要求的单晶半导体层。另外,本发明的目的还在于提供使用了这种SOI基板的可靠性高的半导体装置。对从半导体基板分离且接合在具有绝缘表面的支撑基板上的半导体层照射电磁波,并且对受到电磁波照射的半导体层表面进行研磨处理。通过电磁波照射,可以使半导体层的至少部分区域熔化,使得半导体层中的结晶缺陷减少。而且,通过研磨处理研磨半导体层表面来实现平坦化。因此,通过电磁波照射和研磨处理,可以制造具有结晶缺陷减少且平坦性高的半导体层的SOI基板。 | ||
搜索关键词: | soi 制造 方法 半导体 装置 | ||
【主权项】:
1.一种SOI基板的制造方法,其特征在于,包括:对半导体基板的一个表面照射离子而在所述半导体基板的离所述一个表面有一定深度的区域中形成脆化层;在所述半导体基板的所述一个表面上或支撑基板上形成绝缘层;进行热处理,以便在所述半导体基板和所述支撑基板夹着所述绝缘层重叠的状态下使所述脆化层中产生裂缝,并且以便在所述脆化层中分离所述半导体基板,从而在所述支撑基板上形成半导体层;对所述半导体层照射电磁波;以及在照射所述半导体层之后对所述半导体层表面进行研磨处理。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造