[发明专利]一种高温云纹干涉变形测量系统有效

专利信息
申请号: 200810119805.2 申请日: 2008-09-11
公开(公告)号: CN101349549A 公开(公告)日: 2009-01-21
发明(设计)人: 戴福隆;谢惠民;花韬;方岱宁 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100084北京市100*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种高温云纹干涉变形测量系统,属于光测力学、工程材料、构件变形和位移测试技术领域。本发明由激光器、分光耦合器、高温炉、六维调节架和云纹干涉光路系统五部分组成。该测量系统可以实现在高温条件下对u,v两个位移场的高精度实时测量。系统使用绿光照明避免热辐射红光对测量的影响,利用光开关实现面内位移场的自动化测量,采用十字形分块双层石英玻璃解决高温炉的观测窗设计,同时用600线/mm的光栅和长焦距大直径的镜头作为场镜,增大测量物距,减小高温对测量系统的影响,提高条纹分辨率。通过六维调节架,调节云纹干涉光路系统,解决高温炉中试件难于调节的问题。系统使用方便,测量灵敏度高。
搜索关键词: 一种 高温 干涉 变形 测量 系统
【主权项】:
1.一种高温云纹干涉变形测量系统,含有图像采集系统(1)、激光器(2)、分光耦合器(3)、带有观测窗的高温炉(4)、六维调节架(5)和云纹干涉光路系统,所述的云纹干涉光路系统包括云纹干涉光学元件箱(6)、镜头(8)和光栅(44);云纹干涉光学元件箱(6)放置在六维调节架(5)上,图像采集系统(1)、镜头(8)和光栅(44)位于同一直线上,光栅(44)粘贴在试件(7)表面,试件(7)放置在带有观测窗的高温炉(4)中,激光器(2)、分光耦合器(3)位于云纹干涉光路系统的同一侧,其特征在于:所述的云纹干涉光路系统采用焦距至少为100mm、直径至少为50mm的镜头(8)作为场镜,云纹干涉光路系统中采用的光栅为600线/mm的光栅;所述的激光器(2)为半导体绿光激光器,其波长为533nm。
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