[发明专利]一种自动坏点检测方法与设备有效

专利信息
申请号: 200810105491.0 申请日: 2008-04-29
公开(公告)号: CN101282419A 公开(公告)日: 2008-10-08
发明(设计)人: 梅大为;邱嵩;王浩 申请(专利权)人: 北京中星微电子有限公司
主分类号: H04N5/217 分类号: H04N5/217;H04N17/00
代理公司: 北京亿腾知识产权代理事务所 代理人: 陈霁
地址: 100083北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种坏点检测方法和设备。所述方法包括:判断象素点所在区域是细节区域或均匀区域;对均匀区域中的象素点,判断是否空间连通以及是否已在自动坏点表中;对判断为空间连通并且已在自动坏点表中的象素点,进行场景运动判断;以及根据场景运动判断的结果,确定是否是坏点。本发明通过细节区域和均匀区域的区分,以有效防止对原本图像细节的模糊;对均匀区域严格作坏点判断时空间连通性的判断条件,以提高对坏点检测的灵敏度和“伤点”的检测率;自动坏点表的运用,大大增加真实坏点的检测率。
搜索关键词: 一种 自动 检测 方法 设备
【主权项】:
1.一种坏点检测方法,包括:区分象素点所在区域是细节区域或均匀区域;对均匀区域中的象素点,判断是否空间连通以及是否已在自动坏点表中;对判断为空间连通并且已在自动坏点表中的象素点,进行场景运动判断;以及根据场景运动判断的结果,确定所述象素点是否是坏点。
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