[发明专利]一种自动坏点检测方法与设备有效
| 申请号: | 200810105491.0 | 申请日: | 2008-04-29 | 
| 公开(公告)号: | CN101282419A | 公开(公告)日: | 2008-10-08 | 
| 发明(设计)人: | 梅大为;邱嵩;王浩 | 申请(专利权)人: | 北京中星微电子有限公司 | 
| 主分类号: | H04N5/217 | 分类号: | H04N5/217;H04N17/00 | 
| 代理公司: | 北京亿腾知识产权代理事务所 | 代理人: | 陈霁 | 
| 地址: | 100083北京市*** | 国省代码: | 北京;11 | 
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 | 
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 自动 检测 方法 设备 | ||
1.一种坏点检测方法,包括:
区分象素点所在区域是细节区域或均匀区域;
对均匀区域中的象素点,判断是否空间连通以及是否已在自动坏点表中;
对判断为空间连通并且已在自动坏点表中的象素点,进行场景运动判断;以及
根据场景运动判断的结果,确定所述象素点是否是坏点。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于包括在区分象素点所在区域的步骤之前确定象素点是否在手动坏点表中的步骤。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于所述方法包括对于处在细节区域的象素点,判断是否出现在自动坏点表中,并且对未出现在自动坏点表中的象素点不做空间连通性判断,直接判为好点。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于所述方法包括对于处在细节区域的象素点,当所述象素点出现在自动坏点表中时,将其判为坏点。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于所述方法包括对于处在均匀区域的象素点,在被判断空间不连通时,判断象素点是坏点。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于所述自动坏点表包括坏点等级和参照值,所述场景运动判断的步骤包括基于参照值进行场景运动判断,所述根据场景运动判断结果确定是否是坏点的步骤包括根据场景运动判断的结果改变坏点等级,更新参照值的步骤。
7.如权利要求6所述的方法,其特征在于所述场景运动判断的结果为运动时,所述改变坏点等级的步骤包括将坏点等级降低一个等级。
8.如权利要求6所述的方法,其特征在于所述方法包括对于处在细节区域的象素点,判断该点的空间是否连通,并且在判断为不连通时,将象素点记录在自动坏点表中并且将其坏点等级置为最高等级,并且更新参考值。
9.如权利要求6所述的方法,其特征在于所述方法包括对于处在均匀区域的象素点,当所述判断是否空间连通以及是否已在自动坏点表中的步骤判断该点的空间不连通时,将坏点等级置为最高,并且更新参考值。
10.如权利要求6所述的方法,其特征在于所述方法包括当场景运动判断结果是场景未运动时,将象素点判断为坏点,不改变其坏点等级。
11.如权利要求6所述的方法,其特征在于所述方法包括判断象素点的坏点等级是否低于第一阈值,如果低于第一阈值,则将象素点判为好点,将该点从自动坏点表中排除。
12.如权利要求6所述的方法,其特征在于所述方法包括比较自动坏点表中统计坏点数目与第二阈值,在统计坏点数目超过该第二阈值时,降低各坏点等级,并且将最低等级的坏点剔除出自动坏点表。
13.一种坏点检测设备,包括:
存储装置,存储自动坏点表;
判断象素点所在区域是细节区域或均匀区域;
对均匀区域中的象素点,判断是否空间连通以及是否已在自动坏点表中的装置;
对判断为空间连通并且已在自动坏点表中的象素点,进行场景运动判断的装置;以及
根据场景运动判断的结果,确定是否是坏点的装置。
14.如权利要求13所述的设备,其特征在于所述自动坏点表包括坏点等级和参照值,所述场景运动判断的装置基于参照值进行场景运动判断,所述根据场景运动判断结果确定是否是坏点的装置根据场景运动判断的结果改变坏点等级,更新参照值。
15.如权利要求13所述的设备,其特征在于所述改变坏点等级是指在所述场景运动判断的结果为运动时将坏点等级降低一个等级。
16.如权利要求13所述的设备,其特征在于包括对于处在细节区域的象素点,判断该点的空间是否连通,并且在判断为不连通时,将象素点记录在自动坏点表中并且将其坏点等级置为最高等级,并且更新参考值的装置。
17.如权利要求13所述的设备,其特征在于包括对于处在均匀区域的象素点,当判断该点的空间不连通时,将坏点等级置为最高,并且更新参考值的装置。
18.如权利要求13所述的设备,其特征在于包括当场景运动判断结果是场景未运动时,将象素点判断为坏点,不改变其坏点等级的装置。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京中星微电子有限公司,未经北京中星微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810105491.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





