[发明专利]一种基于对玻璃材料的气泡、杂质测量的检测仪无效
| 申请号： | 200810101295.6 | 申请日： | 2008-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN101241086A | 公开（公告）日： | 2008-08-13 |
| 发明（设计）人： | 杨文志;景洪伟;吴时彬;曹学东 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01N21/958 | 分类号： | G01N21/958 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 | 代理人： | 贾玉忠;卢纪 |
| 地址： | 61020*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种基于对玻璃材料的气泡、杂质测量的检测仪，其特征在于：由基座、工件测试液槽、三维工作台、照明系统、成像系统、CCD、计算机系统七部分组成；在工件测试液槽中间开有一条玻璃窗口，并将其放置在基座上，在基座中心位置放置三维移动台，三维移动台上放置照明系统、成像系统和CCD；照明系统包含有光源系统和45°半透半反分光镜；测量时，被测玻璃器件放置在工件测试液槽中，将工件测试液槽内注入适量折射液，由光源系统发出的光束经45°半透半反分光镜和玻璃折射液后照射到被测玻璃器件上，被测玻璃器件中的气泡或杂质在光束的照射下将产生散射，散射光经成像系统后会聚到CCD的靶面上被CCD采集，计算机系统对采集到图像进行分析处理可得到气泡、杂质的大小和位置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 玻璃 材料 气泡 杂质 测量 检测 | ||
【主权项】：
1、一种基于对玻璃材料的气泡、杂质测量的检测仪，其特征在于：它由基座(1)、工件测试液槽(2)、三维工作台(3)、照明系统(4)、成像系统(12)、CCD(13)、计算机系统(14)七部分组成；在工件测试液槽(2)中间开有一条玻璃窗口(9)，并将工件测试液槽(2)放置在基座(1)上，在基座(1)中心位置放置三维移动台(3)，三维移动台(3)上放置照明系统(4)、成像系统(12)和CCD(13)，其中照明系统(4)包含有光源系统(5)和45°半透半反分光镜(6)；测量时，被测玻璃器件(8)放置在工件测试液槽(2)中，然后将工件测试液槽(2)内注入适量折射液(7)，由光源系统(5)发出的光再经45°半透半反分光镜(6)和玻璃折射液后照射(7)到被测玻璃器件(8)上，被测玻璃器件(8)中的气泡或杂质在光束的照射下将产生散射，散射光经成像系统(12)后会聚到CCD(13)的靶面上，此时CCD(13)采集图像，计算机系统(14)对CCD(13)采集到的图像进行分析处理可得到气泡、杂质的大小和位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所，未经中国科学院光电技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810101295.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：共模扼流线圈
- 下一篇：一种光伏变压器用双电压线圈及其绕制方法
