[发明专利]一种基于对玻璃材料的气泡、杂质测量的检测仪

说明书

技术领域

本发明涉及一种微光探测检测仪，特别涉及一种对玻璃材料的气泡、杂质测量的检测仪。

背景技术

在轻型镜拼接时可能会产生焊接气泡和杂质，这些气泡和杂质对光学系统的成像质量带来很大影响，因此在进行轻型镜拼接时需要严格对其加以控制。本发明克服了现在检测气泡、杂质用平行光照射玻璃用人眼观察，且只能定性判断的缺点；避免了现有检测方法要对焊接处进行加工才能检测的缺点。本发明采用两种折射液来配比出与被测玻璃折射率一致的折射液，并将被测玻璃器件浸入折射液中，消除了被测玻璃器件焊接处表面缺陷对测量的影响；由照明系统产生的单色光束经玻璃折射液后照射到被测玻璃上，被测玻璃中的气泡或杂质在单色光束的照射下将产生散射，散射光经成像系统后会聚到CCD靶面上，通过计算机进行图像采集和分析计算得出气泡的尺寸大小及相对于CCD靶面的位置分布。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：针对现有对光学材料中的气泡、杂质检测只能定性检测，不能定量检测，以及检测速度比较慢，不适应高精度检测，也不适宜批量生产等缺点，提供一种适宜于工业生产的用于气泡、杂质检测的检测仪。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种基于对玻璃材料气泡、杂质检测的检测仪，由基座、工件测试液槽、三维工作台、照明系统、成像系统、CCD、计算机系统七部分组成；其特征在于：在工件测试液槽中间开有一条玻璃窗口，并将工件测试液槽放置在基座上，在基座中心位置放置三维移动台，三维移动台上放置照明系统、成像系统和CCD，其中照明系统包含有光源系统和45°半透半反分光镜；测量时，被测玻璃器件放置在工件测试液槽中，然后将工件测试液槽内注入适量折射液，由光源发出的光束经光源系统再经45°半透半反分光镜和玻璃折射液后照射到被测玻璃器件上，被测玻璃器件中的气泡或杂质在光束的照射下将产生散射，散射光经成像系统后会聚到CCD的靶面上，此时CCD采集图像，计算机系统对CCD采集到的图像进行分析处理可得到气泡、杂质的大小和位置。

所述的成像系统由负焦物镜组和摄远物镜组构成；焦深为±10mm，能够将检测到的杂质或气泡缩小2倍成像在CCD的靶面上；

所述的成像系统能够随三维工作台上下移动实现对焦，也能随三维工作台左右、前后移动实现对被测玻璃器件不同位置的检测。

所述的工件测试液槽上的窗口玻璃的上下两面均镀有增透膜。

所述的工件测试液槽内的折射液是用两种折射液来配比，以实现工件测试液槽内的折射液的折射率与被测玻璃一致，折射液配比如下：

V1V2=n2-n0n0-n1]]>

V₁-所需折射液低折射率的体积

V₂-所需折射液高折射率的体积

n₁-低折射液的折射率

n₂-高折射液的折射率

n₀-所配折射液的折射率工程

所述的光源系统包括光源和光源光学系统；光源发出的光束经过光源光学系统后形成单色光。

本发明的原理是：被测件放置在工件测试液槽中，容器中间开一条玻璃窗口，容器内注入适量折射液，容器放置在基座上，在基座中心位置放置三维移动台，三维移动台可上下、左右、前后移动；三维移动台上放置光学系统(包含照明系统、成像系统)及CCD；由光源系统产生的单色光束经45°半透半反分光镜和玻璃折射液后照射到被测玻璃器件上，被测玻璃器件中的气泡或杂质在单色光束的照射下将产生散射，散射光经成像系统后会聚到CCD靶面上，此时CCD采集图像，计算机系统对图像进行分析处理可得到气泡、杂质的大小和位置。