[发明专利]在涡流检验系统中用于纵向缺陷检验的方法和算法有效

专利信息
申请号: 200810100330.2 申请日: 2008-04-07
公开(公告)号: CN101281169A 公开(公告)日: 2008-10-08
发明(设计)人: B·勒帕格;P·瓦尚 申请(专利权)人: 奥林巴斯NDT公司
主分类号: G01N27/90 分类号: G01N27/90
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张雪梅;王忠忠
地址: 美国麻*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明涉及在涡流检验系统中用于纵向缺陷检验的方法和算法。一种数据处理算法的集合,当一起使用时,适于取代涡流检验系统中的高通滤波器阶段,并且提供了一种系统,该系统被优化成检验测试件中平行于扫描轴的细长缺陷。该算法利用数学技术来消除测试件之间的基线阻抗偏移,在扫描期间校正偏移漂流,并允许仅使用一组质量未知的测试件来平衡系统。
搜索关键词: 涡流 检验 系统 用于 纵向 缺陷 方法 算法
【主权项】:
1、一种用于消除测试系统中信号漂移的影响的方法,该方法不使用高通滤波器,该方法包括:仅仅当测量读数位于一定的阈值范围内时,以设定的恒定斜率值将信号漂移朝向基线校正,以放置阻碍缺陷分析。
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