[发明专利]在涡流检验系统中用于纵向缺陷检验的方法和算法

权利要求书

1、一种用于消除测试系统中信号漂移的影响的方法，该方法不使用高通滤波器，该方法包括：

仅仅当测量读数位于一定的阈值范围内时，以设定的恒定斜率值将信号漂移朝向基线校正，以放置阻碍缺陷分析。

2、根据权利要求1的方法，包括通过平均初始阻抗测量以确定位移常数，并且将随后的读数位移所述位移常数，来一部分一部分地减小测量变化。

3、根据权利要求2的方法，包括利用初始阻抗测量的平均值来确定位移常数。

4、根据权利要求2的方法，包括利用初始阻抗测量的中值来确定位移常数。

5、根据权利要求1的方法，包括通过在参数上将测量在水平方向和垂直方向上位移一组用户定义的平移参数，来减小测量之间的分散效应。

6、根据权利要求1的方法，包括利用涡流探头并且执行三种算法的至少其中一种，以消除涡流探头感测的基线偏移，而不用掩蔽指示纵向缺陷的涡流探头数据，该缺陷沿着涡流探头的扫描方向延伸。

7、根据权利要求6的方法，其中，涡流探头为阵列型探头，包括多个线圈。

8、根据权利要求6的方法，包括执行有界迭代偏移校正(BI OC)算法，该算法迭代地将来自探头测量的阻抗读数朝着阻抗平面中的零点调节。

9、根据权利要求6的方法，包括执行有限初始值校正(LI VC)算法，该算法减小了从涡流探头阵列中的各个感测元件所感测的阻抗读数的分散性。

10、根据权利要求6的方法，包括执行均值分析校正(MVAC)算法，该算法减小了由测试件到测试件的阻抗位移引起的基线偏移的范围。

11、根据权利要求8的方法，其中有界迭代偏移校正(BIOC)算法利用固定值步长。

12、根据权利要求8的方法，包括当读数的幅度位于预设的阈值之外时，暂停执行有界迭代偏移校正算法。

13、一种涡流缺陷检测系统，包括：

涡流阵列探头，用于感应测试物体中的涡流，并用于从该测试物体获得涡流数据；

处理系统，用于处理该涡流数据；以及

显示系统，用于显示测试物体的测试结果；

其中，处理系统包括有界迭代偏移校正(BIOC)装置，该装置被构建为通过迭代地将来自各次测量的阻抗读数朝着阻抗平面中的零点调节而减小基线偏移。

14、根据权利要求13的系统，还包括均值分析校正(MVAC)装置，该装置被构建为减小测试物体到测试物体的平均阻抗位移引起的基线偏移的范围。

15、根据权利要求13的系统，还包括有限初始值校正(LIVC)装置，该装置被构建为减小从包括涡流阵列探头的感测元件的各个元件所感测的阻抗读数的分散性。

16、根据权利要求13的系统，包括设置在BIOC装置前的低通滤波器。

17、根据权利要求13的系统，其中，BIOC装置被构建为保存潜在的缺陷数据，同时维持DC偏移补偿。

18、根据权利要求13的系统，还包括接近检测器，该检测器感测涡流阵列探头何时离测试物体在预定的距离内，并且用于使MVAC和LIVC算法同步。

19、根据权利要求13的系统，其中MVAC装置被构建为排除从MVAC装置获得的位于与合理的缺陷或者瑕疵有关的数值的设定范围之外的测量。

20、根据权利要求13的系统，其中MVAC装置被构建为产生平均和中间阻抗值之一，该平均和中间阻抗值之一对每个测试物体计算一次，并且随后用在对测试物体的扫描中。

21、根据权利要求13的系统，其中LIVC装置被构建成利用操作者定义的平移因子将阻抗读数位移到更靠近阻抗平面中的零点。

22、根据权利要求21的系统，其中平移因子包括一对分别与x和y方向有关的因子。

23、根据权利要求21的系统，其中平移因子包括固定的矢量。