[发明专利]用线型传感器探测物理量的方法

摘要

本发明涉及一种用线型传感器探测物理量在传感器多个测量点处变化的方法。传感器有一条光纤，有众多沿着光纤分布并各自位于一个测量点处的光纤光栅，光纤光栅在无应力作用下具有基本相同的选择性作用波长带，它包括下述步骤：从光纤的入射端注入一个探测光信号，其波长不在选择性作用波长带内；当某个测量点处的物理量变化达到一定量值时，该测量点处的光纤光栅的选择性作用波长带漂移到使该选择性作用波长带与探测光信号的波长带交叉重叠，这时，该测量点处的光纤光栅就对探测光信号产生了一定的反射或耗散，在出射端探测到光强变化，从而探测到所述物理量的变化。

主权项

1.用线型传感器探测一个物理量在所述传感器的多个测量点处的变化的方法，所述传感器有一条光纤，有众多沿着所述光纤分布并各自位于一个测量点处的光纤光栅，所述光纤光栅在无应力作用的情况下具有基本相同的选择性作用波长带，其特征在于，它包括下述步骤：一从光纤的称为入射端的一端注入一个探测光信号，所述探测光信号的波长不在所述的选择性作用波长带内，并与选择性作用波长带有预设波长差值，一当某个测量点处的物理量变化达到一定量值时，该测量点处的光纤光栅的选择性作用波长带至少漂移了上述的预设波长差值，从而使该选择性作用波长带至少覆盖了所述探测光信号波长带的一部分，这时，该测量点处的光纤光栅就对探测光信号产生了一定的反射或耗散掉，在光纤的称为入射端的另一端，即出射端则探测到探测光信号强度的变化，从而探测到所述物理量的变化。