[发明专利]用线型传感器探测物理量的方法

权利要求书

1.用线型传感器探测一个物理量在所述传感器的多个测量点处的变化的方法，所述传感器 有一条光纤，有众多沿着所述光纤分布并各自位于一个测量点处的光纤光栅，所述光纤光 栅在无应力作用的情况下具有基本相同的选择性作用波长带，

其特征在于，它包括下述步骤：

一从光纤的称为入射端的一端注入一个探测光信号，所述探测光信号的波长不在所述的 选择性作用波长带内，并与选择性作用波长带有预设波长差值，

一当某个测量点处的物理量变化达到一定量值时，该测量点处的光纤光栅的选择性作 用波长带至少漂移了上述的预设波长差值，从而使该选择性作用波长带至少覆盖了所述探 测光信号波长带的一部分，这时，该测量点处的光纤光栅就对探测光信号产生了一定的反 射或耗散掉，在光纤的称为入射端的另一端，即出射端则探测到探测光信号强度的变化， 从而探测到所述物理量的变化。

2.根据权利要求1所述的用线型传感器探测物理量的方法，其特征在于：从光纤的称为入 射端的一端注入多个探测光信号，其波长均不在所述选择性作用波长带内，并与选择性作用 波长带有不同的预设波长差，从而可以探测出测量点处物理量变化的多个量值。

3.根据权利要求1或2中任意一项所述的方法，其特征在于：每个探测光信号由两个相继 的光脉冲组成，两个光脉冲的波长差不小于所述选择性作用波长带宽的一半，且不大于所述 选择性作用波长带宽，物理量变化的是通过两个不同波长的透射光信号的强度的比值来确 定。

4.根据权利要求1至3中任意一项所述的方法，其特征在于：为了测量所述物理量的变化， 事先要进行标定，以便将所述透射光信号的强度的所有幅值与所述物理量的一个相应的幅值 联系起来。